Soquete de teste QFN Kepler

manual

Tecnologia de contacto de fricção de elevado desempenho para CI periféricos A tecnologia de contacto Kepler combina o movimento de esfrega de um contacto cantilever com a versatilidade e modularidade de uma sonda de mola. O design inclui um movimento horizontal durante o curso descendente do dispositivo para remover os óxidos da superfície, proporcionar um contacto estável e fiável e não causar danos na placa de circuito impresso. Características e vantagens Características técnicas: -Para testar LGA, QFN, QFP e outras variantes -A ação de esfregar rompe os óxidos superficiais na almofada do dispositivo -Percurso de sinal curto -Design de soquete Tri-Temp para suportar -55 °C a +150 °C -Flexibilidade de design configurável para integração em configurações de hardware existentes -Concebido para testes manuais, testes de bancada e testes de produção HVM -Caixa isoladora feita de poliimida de alto desempenho -Pequena pegada de soquete Vantagens: -Longa duração do contacto, baixo desgaste, testado para mais de 500 mil inserções -Fornece um contacto fiável e consistente para almofadas de estanho mate ou NiPdAu, baixa consistência de Cres -Integridade de sinal excecional -Cobre uma vasta gama de aplicações de teste -Corresponde à pegada da tomada PCB existente e ao hardware de teste, o que leva a uma poupança de custos para os clientes -Reparável no terreno, fácil limpeza e manutenção -Constante dieléctrica baixa, CLTE baixo, módulo de flexão excecional -Permite que os componentes do topo da placa de circuito impresso sejam colocados perto do DUT para um melhor desempenho do sinal e menos perda de sinal