粗度測定機 WD4200
厚さ光学自動

粗度測定機 - WD4200 - Chotest Technology Inc. - 厚さ / 光学 / 自動
粗度測定機 - WD4200 - Chotest Technology Inc. - 厚さ / 光学 / 自動
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特徴

物質的特性
粗度, 厚さ
技術
光学
操作方法
自動
測定製品
ウェハー用
応用
産業用, 制御用, 電子機器用
構造
卓上
その他の特徴
高速, 高解像度, リアルタイム

詳細

WD4000 シリーズは、ウェーハの厚さ、表面粗さ、マイクロナノ3D微細形状を一度に自動測定することができます。白色光コンフォーカルプローブを使用し、ウェーハ厚さ、TTV、LTV、BOW、WARP、ライン粗さを測定します。白色光干渉プローブを使用し、ウェーハ表面をスキャンして表面の3Dプロファイル画像を作成し、ISO/ASME/EUR/GBT規格に従って粗さと関連する2Dおよび3Dパラメータを分析します。 非接触測定により、ウェーハの上下面に基づく3D形状を再構築します。強力な測定・解析ソフトウェアにより、ウェーハの厚み、粗さ、総厚み変動(TTV)の安定した計算を保証します。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。