走査型電子顕微鏡 SEM2100

実験用素材分析用半導体用

CIQTEK SEM2100 SEM顕微鏡の仕様 電子光学系 分解能 3.9 nm @ 20 kV、SE 4.5 nm @ 20 kV、BSE 加速電圧： 0.5 kV～30 kV 倍率（ポラロイド）1 x ~ 300,000 x 試料室 カメラ光学ナビゲーション チャンバーモニタリング ステージタイプ3軸、XYZ軸真空対応電動式 XYレンジ125 mm Zレンジ50 mm SEM検出器 標準エバーハート-ソーンリー検出器（ETD） オプションリトラクタブル後方散乱電子検出器（BSED） エネルギー分散型分光計 (EDS / EDX) 電子後方散乱回折パターン (EBSD) オプション 試料交換用ロードロック トラックボール＆ノブコントロールパネル ユーザーインターフェース オペレーティングシステムウィンドウズ ナビゲーションオプティカルナビゲーション、ジェスチャークイックナビゲーション、トラックボール（オプション） 自動機能：オートブライトネス＆コントラスト、オートフォーカス、オートスティグマータ CIQTEK SEM2100SEM顕微鏡は、操作プロセスを簡素化し、業界標準とユーザーの習慣に忠実な「ユーザーインターフェース」デザインを採用しています。最小限のソフトウェアインターフェースにもかかわらず、包括的な自動化機能、測定と注釈ツール、画像後処理管理機能、光学画像ナビゲーションなどを提供します。SEM2100のデザインは、「機能を犠牲にすることなくシンプルに」という考えを完璧に実現しています。 #直感的でクリーン、使いやすいUlデザイン #包括的な自動化機能 #統合された画像後処理機能 #統合された画像後処理機能 #標準光学イメージナビゲーション #優れた拡張性 #より安全な操作性