蛍光X線分光器 FISCHERSCOPE® XDL®

測定用品質管理用検査用

• エネルギー分散型蛍光X線スペクトロメーターによる、素材分析およびISO 3497とASTM B 568に準拠した膜厚測定 • XDLMの最小測定スポット: 約0.1 mm; XDLの最小測定スポット: 約0.2 mm • X線源：タングステンX線チューブ、またはタングステンマイクロフォーカスチューブ(XDLM) • X線検出器：比例計数管 • 固定または切替式コリメーター • 固定または自動切替式一次フィルター • 手動またはプログラム可能なXYステージ • 大きなプリント配線板など向けのスリットの入ったハウジング • 測定位置の簡単調整のためのビデオカメラ • 完全保護された認定されたデバイス FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®およびXDLM®測定器は、X線照射は上から下となります。これにより、平坦ではない試験片でも測定が容易になります。つまり複雑形状でも測定ができます。 X線を上から下へ照射する他の利点として、測定タスクをプログラム化して自動測定が組めます。プログラム可能な測定ステージを搭載しており、XDL 240およびXDLM 237は、表面をスキャン（走査）して測定することにも適しています。大型パーツの膜厚測定ができ、また多数の小型パーツの自動測定もできます。 XDLMは、マイクロフォーカスチューブを搭載しており、特に小さなサンプルの測定に適したデバイスです。エレクトロニクス産業などにおける直径0.1mmの測定スポットにも対応できます。