SDD分光器

... EDX-8100は、様々な試料に含まれる元素を高精度かつ迅速に分析します。 電気・電子材料 - RoHSおよびハロゲンスクリーニング - 半導体、ディスク、液晶、太陽電池の薄膜分析... 小さな設置面積で大きな試料室 コンパクトなボディサイズにより、設置幅は従来機より20%縮小。 コンパクトなボディ EDX-8100は... PCEDX Naviソフトウェアで最初から簡単操作 PCEDX Naviソフトウェアは、初心者の方でも蛍光X線分析が簡単に行えるように設計されています。 高性能SDD検出器と最適化されたハードウェアにより、従来では達成できなかった高感度、分析速度、エネルギー分解能を実現しました。軽元素分析をサポート... 小型から大型、粉体から液体まであらゆるサンプルに対応。オプションとして、軽元素の高感度測定のための真空測定ユニットとヘリウムパージユニット、および... 検量線法 標準試料を測定し、蛍光X線強度との関係を検量線としてプロットします。 電気・電子材料 RoHSおよびハロゲンスクリーニング 半導体、ディスク、液晶、太陽電池などの薄膜分析 自動車・機械 ELV ...

... SDD サイズ 最速の取得のためのデュアルシリコンドリフト検出器オプション 80x60cm² スキャン可能な表面 1 回の実行で大きなサンプルをマッピングする 100-500 um 調整可能なスポットサイズ スポットサイズは、サンプルの構造に合わせて5つのステップで調整できます 大面積マイクロ-XRFにおける最先端の芸術解釈 大面積マイクロXRF法(マクロ-XRFまたはMA-XRFとも呼ばれる)は大型の絵画、地質サンプル、考古学的人工物および産業部品の分析のための決定的な方法となっています。M6 ...

長さ: 30 cm
幅: 27.5 cm
高さ: 10 cm

... 概要
EDX-7200は、EDXシリーズのモデルであり、高感度、高速、高精度の分析を目的としています。専用のスクリーニング解析キットによりRoHS/ELV、REACH、TSCAなどの規制適合検査をサポートし、高分解能のSDD検出器を搭載してカウント率と検出効率を向上させます。

原理
試料をX線管からのX線で照射すると、試料中の原子が特徴的な蛍光X線を放出します。各元素に固有の波長/エネルギーを解析して定性同定を行い、特定波長での強度を測定することで元素濃度に基づく定量解析を行います。

主な機能

• 高分解能SDD検出器により高いカウント率と検出効率を実現。
• 優れたエネルギー分解能によりピークの重なりを低減し、解析の信頼性を向上。
• 最大約

... アナリシスステーション™ 「画像中心の観察分析・融合システム」を、基本コンセプトとしたTEM/EDSのインテグレーションシステムです。分析データと共に電顕本体装置の倍率、加速電圧等のパラメーターを自動収集し、データの管理を行います。 特長 シリコンドリフト検出器（以下、SDD）には、検出面積30mm2、60mm2、100mm2の3タイプがあります。検出面積が大きいものほど検出感度が向上します。JEM-ARM200F（HRP）とドライSD100GV検出器（検出面積100mm2）の組合せでは、大受光面積と高分解能を両立し、 ...

長さ: 690 mm
幅: 630 mm
高さ: 405 mm

... 5E-XRF2500 EDXRFスペクトロメーターは、エネルギー分散型蛍光X線スペクトル（EDXRF）を採用しています。EDXRFは、さまざまな種類のサンプル（固体、粉末、液体）中の主要およびマイナーな元素を迅速かつ非破壊的に測定する定性および定量分析技術です。 幅広い適用性。 固体、液体、粉体、粒子などの試料に適しています。 操作が簡単。 複雑なサンプルの前処理は必要ありません。ユーザーはサンプルをテストエリアに入れ、「Start」をクリックするだけで分析が完了します。 高効率です。 1つのサンプルの分析に1～15分かかります（必要に応じて調整可能）。 モジュール設計。 必要に応じて自由に組み合わせることができ、さまざまな使用シーンに対応します。 低コスト。 薬品などの消耗品が不要で、真空モードではヘリウムを消費しません。 最高の分解能とCR。 ドイツの新世代VITUSシリコンドリフトディテクタを採用し、最高のカウントレートとエネルギー分解能を実現しました。5E-XRF2500は、50Wパワーの光電管の出力を最大限に活用し、高い安定性と感度を実現しています。 ワイドレンジ。 Na-Uの全元素をPPMから100%までの濃度で測定します。 安全な操作。 試験機のチャンバーは、厚い銅、電子インターロック設計、ソフトウェア割り込みなどの3つの保護手段を採用しており、いかなる試験環境においてもX線の漏洩は絶対にありません。 タッチスクリーン操作。 人間工学に基づいて設計されたタッチスクリーンは、キーボードやマウスを使わずに操作することができます。ソフトウェアはシンプルで直感的なデザインです。誰でもタッチスクリーンコントロールソフトウェアを使用して機器を操作することができ、分析全体をより簡単かつ迅速に行うことができます。 ...

... 原材料検査、工程管理、完成品検査における元素含有量のフィールド分析、金属材料の信頼性の判定と合金等級の迅速な識別、鉱物サンプルの原位置元素分析、土壌中の重金属のフィールド検出 製品の特徴 小型で持ち運びが容易、人間工学に基づいたハンドルデザインでつかみやすい、特殊な装置カバー、現場での使用に便利 数秒で検査結果が表示される信頼性の高い測定 マイクロX線管、SDD検出器、マイクロデジタル信号マルチチャンネルプロセッサー、インテリジェント分析モジュールという4つのコア技術の応用により、検査精度は卓上型装置に匹敵します。 スマートな3色警告システムと3重の安全保護機能により、装置操作の安全性を高めています。 ...

... FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®は、薄膜、微小構造や金属メッキを測定に適した測定器です。また、切替可能なコリメーターと一時フィルターを搭載しています。 測定対象が複雑であるほど、検出器の選択は重要な要素となります。FISCHERSCOPE X-RAY XDALは、3種類の半導体検出器から選択できます。 シリコンPINダイオードの検出器により、比較的大きな測定エリアにおける多層膜測定に適しています。CrNやTiNなどの硬質材料皮膜の分析などにも使用されます。 シリコン・ドリフト検出器（SDD）は、シリコンPINダイオードよりも高分解能を有する検出器です。電子部品産業や半導体産業における機能膜の測定などに適しています。また、薄い合金層または金とプラチナなどといった近似する元素の分析にも適しています。ENIGやENEPIGといったアプリケーションにおいて信頼性の高い品質管理ができます。 Fischerでは、より大きい面積のシリコン・ドリフト検出器（SDD）を搭載した測定器も提供しています。ナノメートル領域の薄膜の測定にも適しています。これらのXDAL測定器により、高い信頼性を必要とするスズウィスカー防止のためのはんだの鉛含有量を分析できます。 ...

... AXR Scientific In-line XRF Spectrometer Moduleシリーズは、柔軟な構成が可能で、工場の生産ラインのレイアウトや実際の状況に応じて、ロボットアームや自動装置と効果的に統合し、さまざまなサンプルの特性に応じた効率的な検出ソリューションを形成することができます。 AXR 科学的なインライン XRF の分光計モジュール シリーズは柔軟に構成することができ異なったサンプルの特徴に合う有効な検出の解決を形作るために工場生産ラインのレイアウトそして実際の状態に従ってロボット腕および自動装置によって効果的に統合することができます。検出の全プロセスは、人の介入をあまり必要とせず、自動化によって制御されます。オンライン検査ソリューション全体は、生産ライン製品のリアルタイム検査と品質管理を24時間実行することができます。 特徴 --24時間365日稼動 --大量生産と加工製品の100%品質管理を実現します。 --合否結果、正確な合金等級、材料化学成分情報を提供するように構成されています。 --元素分析範囲K19-U92カリウム～ウラン、分析可能な含有量範囲：1ppm- ...

長さ: 430 mm
幅: 340 mm
高さ: 200 mm

... ElvaX Basicは、固体、液体、粉体のS (Z=16) からU (Z=92) までの元素を幅広い濃度で定性・定量分析するために最適な、コンパクトでコスト効率の高いエネルギー分散型蛍光X線分析装置です。 低コスト 高速・高精度 コンパクト机の上で場所を取らない 人間工学に基づいたデザイン 高性能な分析ソフトを付属 ElvaX Basicは、宝石、合金の選別、エクスプレスQCなどの分野で適用できる、コストパフォーマンスの高い高性能ソリューションです。 ElvaX Basicは、強力な分析ソフトウェアツールキットと使いやすいインターフェイスを兼ね備えており、初心者でも必要な測定を数分で行うことができます。 ラボでも生産現場でも、ElvaX ...