光学式イメージングシステム EEM® View

分析用

試料のスペクトル測定と観察を両立した新たなコンセプトのシステムです。観察画像からAI技術を応用した解析アルゴリズム＊1により、蛍光画像と反射画像に分離表示するとともに、画像より、区画ごとのスペクトル化＊1（蛍光スペクトル・反射スペクトル）が可能です。 蛍光・反射画像とスペクトルを同時に取得する新技術です。 試料のスペクトルデータ（分光・蛍光特性）を測定 各照明条件（白色光と単色光）における画像を撮影 　（領域：Φ20 mm、波長範囲： 380～700 nm） AI技術を応用した解析アルゴリズム＊1により、蛍光画像と反射画像に分離表示 画像より、区画ごとのスペクトル化＊1 　（蛍光スペクトル・反射スペクトル）が可能 積分球を用いた均一照明系 試料の蛍光・反射画像とスペクトルを同時に取得！ 積分球で照明を拡散化 ムラの少ない照明で試料を均一照射 蛍光分光器とCMOSカメラでデュアル検出 分光蛍光マイクロスコープは、F-7100形蛍光光度計の試料室ユニットに装着可能なオプションです。積分球に入射光を照射することで、均一な照明条件で試料を観測することができます。既存の蛍光側分光器で蛍光スペクトルを取得、積分球下部のCMOSカメラユニットで 画像を同時に取得します。