カラー分光測色計 CM-3700A Plus

キセノン反射性透過

製品概要 コニカミノルタの分光光度計「CM-3700A Plus」は、正確かつ信頼性の高い色測定を実現する最先端技術を搭載し、卓上型分光光度計の新たな基準を打ち立てました。 コニカミノルタの最新フラッグシップモデルとして、前モデル（CM-3700A）の伝統を受け継ぎ、再現性の向上、ΔE*ab 0.08以下の機器間一致度、および不透明、透明、半透明、蛍光試料に対する測定性能の向上を実現しています。 本装置は、民生用電子機器、パーソナルケア・化粧品、塗料・コーティング、プラスチック、建築資材、繊維、食品・飲料、医薬品などの幅広い業界における研究開発、品質管理、およびコンピュータカラーマッチングの用途に対応しています。 主な機能

• SCI（鏡面反射成分を含む）とSCE（鏡面反射成分を除く）の同時測定により、生産性を向上させます。
• 白色の測定において極めて高い精度を実現し、黒色や暗い色の測定精度も向上させるなど、再現性が向上しています。
• 正確な試料位置決めが可能なカメラビューファインダー機能と、測定データとともに画像を保存する機能。
• 周囲の温度・湿度センサーおよび試料用温度計により、測定データとともに環境条件や試料表面温度を記録。
• 校正時の内部性能チェックおよび波長シフト補正を行う波長分析・調整（WAA）機能。
• 実用性を高める広々とした透過率測定チャンバーと内蔵アクセサリー収納スペース。

機能（詳細）

• 高い機器間一致度（IIA）：∆E*ab < 0.08 （BCRAシリーズIIカラータイル12枚の平均値、LAV/SCI）。
• 高い再現性：ホワイトは∆E*ab 0.005以内、ブラックは∆E*ab 0.02以内。
• SCIおよびSCEの同時測定機能。
• 複数の測定領域：SAV、MAV、LMAV、LAV、および透過率モード。
• カメラのファインダー機能（SpectraMagic NX2 などのオプションソフトウェアを使用した画像の撮影・表示）。
• 周囲温度センサーおよび試料温度計（反射率測定時に試料温度の測定が可能）。
• 付属品収納コンパートメントを内蔵。
• 波長シフトを診断・補正する波長分析・調整（WAA）機能。

仕様（表） 照明・観測システム | 反射率：di:8°、de:8°（拡散照明／8°の観測角）； SCI/SCE切替および同時測定可能；CIE No.15(2004)、ISO 7724/1、ASTM E 1164、DIN 5033 Teil 7、およびJIS Z 8722条件cの規格に準拠。 照明・観測システム | 透過率：di:0°、de:0°（拡散照明／0°の観測角）； CIE No.15(2004)、ASTM E 1164、DIN 5033 Teil 7、およびJIS Z 8722条件gの規格に準拠。 積分球サイズ | Ø152 mm / 6インチ 検出器 | 38素子シリコンフォトダイオードアレイ 分光分離装置 | 回折格子 波長範囲 | 360～740 nm 波長ピッチ | 10 nm 半値幅 | 平均約14 nm 測定範囲 | 0～200％； 分解能：0.001% 光源 | パルス式キセノンアークランプ 測定／照射領域 | 反射率：SAV、MAV、LMAV、LAVの間で切り替え可能。SAV：3×5 mm 測定／5×7 mm 照射。 MAV：測定範囲 ø8 mm／照射範囲 ø11 mm。LMAV：測定範囲 ø16 mm／照射範囲 ø20 mm。LAV：測定範囲 ø25.4 mm／照射範囲 ø28 mm。 測定／照射範囲 | 透過率：約 Ø20 mm／ø25 mm 再現性 | 白：色度値の標準偏差が ΔE ab 0.005 以内；分光反射率の標準偏差が 0.05% 以内（白校正後、10 秒間隔で 30 回測定）。黒：色度値の標準偏差が ΔE ab 0.02 以内； 分光反射率の標準偏差は0.02%以内（BCRAシリーズIIの黒タイル（反射率1%）上でホワイトキャリブレーションを行った後、10秒間隔で30回測定）。 機器間一致度 | ΔE*ab 0.08以内 （BCRAシリーズIIカラータイル12枚の平均値；LAV/SCIを、コニカミノルタの標準測定条件下でマスターボディと比較）。 UV調整 | UVカットフィルター：400 nm；コンピュータ制御による連続可変 0.0%～100.0%（1000段階）。 試料温度測定 | 動作温度・湿度範囲内での精度：SAV：±1.2°C；LMAV、MAV：±0.8°C；LAV：±0.5°C。 測定時間 | SCIまたはSCE：約2秒；試料温度測定付きSCIまたはSCE：約4.5秒；SCI+SCE：約5秒；試料温度測定付きSCI+SCE：約5秒；透過率：約2秒。 測定間隔の最小値 | SCI または SCE：約 3 秒；試料温度測定付き SCI または SCE：約 5 秒；SCI+SCE：約 6 秒；試料温度測定付き SCI+SCE：約 6 秒；透過率測定：約 3 秒。 透過率測定チャンバー | 最大試料厚さ：約50 mm；最大試料長さ：チャンバーカバー開放時は無制限；シートや液体容器用のオプション試料ホルダーあり。 カメラファインダー機能 | 内蔵カメラを使用；SpectraMagic NX2などのオプションソフトウェアを使用して画像の表示・コピーが可能。 内蔵性能チェック | WAA（波長分析・調整）技術。 周囲温度センサー | 有。 インターフェース | USB 2.0。 電源 | 専用ACアダプター。 外形寸法（H×W×D） | 約307（H）×271（W）×600（D）mm。 重量 | 約20.0 kg。 動作温度・湿度範囲 | 温度：13～33°C； 相対湿度：80％以下（33°C時）、結露なし。 保管温度・湿度範囲 | 温度：0～40°C；相対湿度：80％以下（35°C時）、結露なし。 標準付属品 | 白色校正板；ターゲットマスク（SAV、MAV、LMAV、LAV）；ゼロ校正ボックス；USBケーブル（3 m）；ACアダプター。 オプション付属品 | カラーデータソフトウェア「SpectraMagic NX2」；透過率試料ホルダー；セル（ガラス製 2 mm、10 mm、20 mm）；プラスチック製セル（2 mm、10 mm、20 mm）； 透過率ゼロ校正プレート；カラープレート；グリーンタイル；ダストカバー。 注意事項 WAA機能：購入後1年間は無料でご利用いただけます。1年以降も引き続きご利用いただくには、本機の点検・校正が必要です。仕様は予告なく変更される場合があります。 特徴／技術仕様

• モデル：CM-3700A Plus
• 測定モード：反射率（di:8°、de:8°）および透過率（di:0°、de:0°）； SCIおよびSCEの切り替えおよび同時測定が可能
• 波長範囲：360～740 nm； ピッチ 10 nm；半値幅 ≈14 nm
• 検出器：38素子シリコンフォトダイオードアレイ；分光分離：回折格子
• 積分球： Ø152 mm / 6インチ
• 測定領域：SAV（3×5 mm）、MAV（ø8 mm）、LMAV（ø16 mm）、LAV（ø25.4 mm）； 透過率：約Ø20/ø25 mm
• 再現性：ホワイトΔE*abが0.005以内； 黒色 ΔE*ab 0.02以内
• 機器間一致度：ΔE*ab 0.08以内（12枚のBCRAタイル、LAV/SCI）
• 光源：パルス式キセノンアークランプ
• インターフェース：USB 2.0; 電源：専用ACアダプター
• 外形寸法：約307 × 271 × 600 mm； 重量：約20.0 kg
• 動作環境：13～33°C、相対湿度 ≤80%（33°C時）、結露なし