レーザー スキャナーヘッド XC65DX

概要
XC65DXは、1つのセンサーに3本のレーザーストライプスキャナーを統合したクロススキャナーです。レーザーは120°間隔で配置され、ワークを3方向から観測するため、1回の走査で線形スキャナーの3回分に相当するデータを取得できます。ロングスタンドオフ（長距離）バリアントはこれらの利点を維持しつつ、最大170 mm（7.1"）までの離隔で凹部や遮られた形状へのアクセスを向上させます。シートメタルや複雑な表面のフィーチャ検査に適し、自動車のBIW検査、ギャップ＆フラッシュ測定、駆動系鋳造品の検査などで広く用いられます。生産用メトロロジーでは水平アームCMMへの搭載が一般的です。

主な特徴

• トリプルレーザーストライプ設計（1センサーに3レーザー、120°間隔）
• 単一走査で線形スキャナー3回分に相当するデータ密度を実現
• 凹部や遮蔽箇所へのアクセスを可能にする長距離性能（最大170 mm / 7.1"）
• スロット、穴、溝、キャビティ表面、複雑な大面積形状に適合
• 一般的な用途：BIW検査、ギャップ＆フラッシュ測定、駆動系鋳造品検査；水平アームCMMへの統合

技術仕様

• スキャナータイプ：クロス
• ポイント/秒（クロススキャナーモード）：3 x 25,000
• ポイント/秒（シングルラインモード）：1 x 75,000
• スキャンレート：75 Hz
• ラインあたりポイント数：900
• 最大取得距離（ロングスタンドオフ）：最大170 mm（7.1"）
• レーザー間隔：120°

典型的な用途

• 板金のスロット、穴、溝の検査
• 車体（BIW）のギャップ＆フラッシュ測定
• 駆動系鋳造品の検査
• 治具やクランプ上方、キャビティ内のスキャン（生産CMM）