厚さ測定器 MPLS180-DM
遠隔光学式非接触式

厚さ測定器 - MPLS180-DM - MARPOSS - 遠隔 / 光学式 / 非接触式
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特徴

測定
厚さ, 遠隔
技術
光学式, 非接触式, 共焦点
応用
産業用
設定
卓上

詳細

STILのクロマティックコンフォーカル技術に基づくChromaLineセンサーシリーズは、産業統合の新たなステップを示す製品です。 その精度、堅牢性、メンテナンスなしで数年にわたる耐用期間によって、MPLSセンサーはオンライン制御に適合します。 180の測定ポイントが1~12 mmの範囲でライン状に配置される新しいMPLS-DMバージョンでは、新機能により高品質な検査が可能になり、動作周波数は標準モードで最大2 kHz、センサーの測定範囲を狭めた場合は6 kHzに及びます。 • 多用途性:白色光を反射するあらゆる材料(例:金属、ガラス、プラスチック、塗膜、液体)の測定が可能 • 受動部品で構成された光学ヘッドにより、工業用に特化 • 最大360,000測定ポイント/秒により、あらゆる産業において標準の2,000ライン/秒で稼働可能 • 専用の用途では6,000ライン/秒で100万ポイント/秒以上を取得 • 距離/厚さ測定 • 高い測定精度 • SDKおよびプロトコルコマンドを使用することで、どのシステムにも簡単に統合が可能 • エンコーダーと同期した測定により動的収集が可能 • Ethernet通信 •

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IMTS
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14-19 9月 2026 Chicago (米国-イリノイ)

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    15-19 9月 2026 Stuttgart (ドイツ)

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    *価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。