製品倒立顕微鏡用の高精度走査ステージ SCAN IM 100 x 45。材料試料向けに設計され、Leica DMIシリーズと互換性があります。
追加情報- 倒立顕微鏡用走査ステージ
- 材料用途向け
- ストローク: 100 x 45 mm
- ボールねじピッチ: 2 mm
- ステージ開口部: 160 x 130 mm
- フラットで人間工学に基づくデザイン
- Leica DMI 3000-6000 / DMi8対応
- ステージインサートなし
データシート- 31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_EN.pdf
- 31-24-433-0000_SCAN_IM_100_45_DE.pdf
特徴 / 技術仕様- 部品番号: 31-24-433-0000
- タイプ: 倒立顕微鏡用走査ステージ
- 用途: 材料用途
- ストローク: 100 x 45 mm
- ボールねじピッチ: 2 mm
- ステージ開口部: 160 x 130 mm
- デザイン: フラットで人間工学的
- 互換性: Leica DMI 3000-6000 / DMi8
- ステージインサート: なし