コンピュータ制御三次元座標測定機 APDIS MV4x0

携帯型大型部品用ラインエッジ

概要
NikonのAPDISは、高速で自動化された非接触検査および絶対測定を目的としたLaser Radarの世代です。プローブやターゲット、表面処理を不要とし、複雑、繊細、あるいはアクセスが困難な部位の繰り返し検査の自動化に適しています。

自動化された非接触測定
本システムは物理接触を伴わずに遠距離の詳細を計測します。これにより部品準備やターゲット、アダプタが不要となり、生産ライン、作業場、計測室での繰り返し検査の自動化に適合します。

主な利点

• 高い生産性：自動化により高速かつ迅速な測定を実現し、セットアップ時間を短縮します。
• 柔軟な設置：携帯可能で現場設置に対応。インラインや現場で絶対測定が可能です。
• 部品・作業者の保護：長距離レーザー測定により機器・作業者・部品間の安全距離を確保します。
• 前処理の最小化：ヘテロダイン干渉法により、多くの表面をターゲットや前処理なしで測定できます。

用途

• 自動車：部品の絶対寸法計測（ライン設置や計測室での自動計測に対応）。
• 航空宇宙：シム調整、継ぎ目検査など大規模部品の自動化。
• エネルギー：大型構造物（再生可能エネルギー部品等）の自動計測と管理。
• 宇宙機：高反射・高価な部材の非接触表面検査。

モデル比較（抜粋）
MV430 | MV450 | MV430E | MV450E
計測範囲：0.5 m - 30 m | 0.5 m - 50 m | 0.5 m - 30 m | 0.5 m - 50 m
サンプリングレート（全モデル）：4000 Hz
スキャン速度（デフォルト*）：MV430/MV430E – 500 点/秒（約2 s/cm2） | MV450/MV450E – 1000 点/秒（約1 s/cm2）
フィーチャー計測：MV430 系 – Standard Feature Scan | MV450 系 – Enhanced Feature Scan**
振動計測：MV450E – 最大2000 Hz、感度 1 µm/m（MV430 系は非該当）
環境等級（全モデル）：IP54

作業限界と方向
作業範囲：0.5 m – 30 m / 50 m
方位（Azimuth）：±180° | 仰角（Elevation）：±45°

精度（MPE）
MPE（基本）：20 µm + 5 µm/m
角度成分（追加）：13.6 µm/m

2点間長さ測定の精度（概要）
式（MPE µm）：√(2(20 + 5·RAve)^2 + (13.6·RAve)^2)（RAve は平均測定距離［m］）
例（平均距離 → MPE / Typical）：0.5 m → 33 µm / 17 µm；1 m → 40 µm / 20 µm；2 m → 57 µm / 28 µm；5 m → 115 µm / 58 µm；10 m → 216 µm / 108 µm；20 m → 420 µm / 210 µm；30 m → 625 µm / 313 µm。

注意
* デフォルト設定 — スタッキング4、ポイント間隔0.1 mm、ライン間隔1 mm。
** Enhanced Feature Scanは標準モードに対して一部のフィーチャー計測を最大2倍速で行える場合があります（設定依存）。

仕様（技術データ）

• モデル：APDIS MV4x0（MV430、MV450、MV430E、MV450E）
• 測定範囲：0.5 m ～ 30 m（MV430/MV430E）または 0.5 m ～ 50 m（MV450/MV450E）
• サンプリングレート：4,000 Hz
• 計測速度（デフォルト）：500 点/秒（MV430 系）／1000 点/秒（MV450 系）
• フィーチャー計測モード：Standard / Enhanced Feature Scan
• 振動計測：MV450E 最大2,000 Hz、感度 1 µm/m
• 作業範囲：Azimuth ±180°、Elevation ±45°
• 精度（MPE）：20 µm + 5 µm/m（基本）、角度寄与 13.6 µm/m
• 環境保護等級：IP54