MEMSや微細構造物のための3D光学テストステーション
微細構造体やMEMS(マイクロエレクトロメカニカルシステム)デバイスの品質管理、試験、開発のために、表面トポグラフィーと動的運動解析を提供する総合光学ワークステーションです。可視化と3Dデータは、有限要素の検証、クロストークの決定、表面形状測定、形状パラメータの評価などに不可欠です。
MEMSや微細構造体の動的応答と3Dトポグラフィの測定
MSA-600-M/Vバージョンは、25 MHzまでの周波数範囲をカバーし、MEMS、MEMSマイクロフォンなどのマイクロシステムのテストに最適です。MSA-600-X/Uは2.5GHzまでの周波数帯をカバーし、高周波のMEMS共振器やSAW、BAWなどのマイクロアコースティックデバイスの研究に適しています。
ハイライト
- 微細構造用オールインワン光学測定ステーション
- リアルタイム応答測定(後処理不要)
- 比類なきサブpmの変位分解能
- たわみパターンの高速測定と可視化
- シンプルで直感的な操作性
- 測定ステーションに簡単に組み込める自動化システム
- FEモデル検証のためのインポート/エクスポートオプション
デモ、フィージビリティスタディ、MEMSサンプルの送付、リモート・オンサイトサポート、測定ステーションや生産ラインへの組み込みなど、お気軽にご相談ください。ぜひお問い合わせください