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光学式検査機
A series
3D
プリント基板
エレクトロニクス産業用
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特徴
技術
光学式, 3D
応用
プリント基板
分野
エレクトロニクス産業用
その他の特徴
自動, 高解像度, 高速
検査領域の高さ
25 mm
(1 in)
詳細
装置の機能 検査対象 3D AOI 解像度 1 Oumv 15um 測定可能な部品の高さ 25mm 装置サイズ(mm) 局所的な3D高速検査 はんだ接合部の欠陥:シャープニング、ホールブロー、はんだ ビード、はんだ不足/過剰、ブリッジ、反り など 近日発売予定
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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。
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