X線光電子分光器

研究所用研究開発用MCP

究極のイメージングXPS 解像度: 500 nm / 100 nm (ラボ/シン クロトン) PEEM 技術による簡単なサンプルナビゲーション小型スポット分光収差補正エネルギーフィルタ高出力単色 X 線源 ARUPS FOCUS GmbHと協力して作成 NanoESCAは、卓越したXPS 横方向の分解能（実験室条件下で500nm 未満）を備えた化学状態マッピングを提供します。 この装置は、スキャニングオージやTOF SIMSなどの他の高横分解能技術の限界を超えた化学状態情報を提供する最小のサンプル構造を分析することができます。 リアルタイムのサンプルナビゲーションは、二次電子レジームで動作するPEEM 技術によって保証されます。 PEEM モードでは、大きなサンプル領域で小さな特徴を簡単に見つけることができ、高解像度（50 nm 以下の分解能）を提供します。 さらに、PEEMモードは、非常に局所的な作業機能とローカルサンプル充電に関する定量的な情報を提供します。 NanoESCAの分光機能はARUPSオプションによって完成させることができます。ARUPSオプションでは、多結晶表面の小さな粒子など、M 領域からのk 空間を解析できます。 その革新的なデザインのために、NanoESCAは2007 年のR & D 100 賞を受賞しました。