FIB/SEM顕微鏡 AMBER分析用素材研究用高精度
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特徴
- タイプ
- FIB/SEM
- 応用
- 分析用, 素材研究用
- その他の特徴
- 高精度, 超高解像度
詳細
材料研究の能力を拡張する多用途なナノ分析FIB-SEM
- 高精度マイクロサンプル前処理
- 超高分解能フィールドフリーSEMイメージングとナノ分析
- 拡張された視野と簡単なナビゲーション
- マルチサイトプロセスオートメーション
- マルチモーダルFIB-SEMトモグラフィー
- 使いやすいモジュール式のソフトウェア・ユーザー・インターフェース
- 様々な用途に対応する魅力的なオプションパッケージ
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