電界放出形走査電子顕微鏡 Apreo ChemiSEM
分析用非金属介在物検査用教育用

電界放出形走査電子顕微鏡 - Apreo ChemiSEM - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - 分析用 / 非金属介在物検査用 / 教育用

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特徴

応用: 非金属介在物検査用, 素材検査用, スチール検査, 分析用, 研究用, 産業用, 教育用, 宇宙産業用, 化学工業用, 金属, 品質管理用, 地質学用, 素材研究用, バッテリー用, 素材分析用, 素材用, 自動車産業用
構成: 床置き
電子源: ショットキー電界放出
検出器の特徴: 反射電子, 2次電子, 可変圧力SE, EBSD, カソードルミネッセンス, エネルギー分散型X線分析装置
オプションと付属品: コンピューター制御式
その他の特徴: 自動, 長距離作業式, 画像処理用, 相関, 同時取り込み用

詳細

概要
Thermo Scientific Apreo ChemiSEM Systemは、解析用走査電子顕微鏡（SEM）であり、解析用作業距離10 mmでナノメートルおよびサブナノメートルの分解能を提供します。フィールドエミッションガン（FEG）と高度な光学系により、ビームに敏感な材料、複合材料、磁性試料、ナノ材料の高分解能イメージングを実現し、構造情報と組成情報の相関解析に対応する統合解析性能を維持します。

統合分析機能
ChemiSEMテクノロジーはSEMイメージングとエネルギー分散型X線分析（EDS）を統合し、常時稼働の定量的元素マッピングを実現します。系はまた、結晶方位解析のためのEBSDをサポートし、形態学、元素、結晶情報を組み合わせたマルチモーダルワークフローを可能にします。

主なシステム機能

フィールドエミッションガン（FEG）によりナノメートルおよびサブナノメートルスケールでの高分解能イメージングが可能。
解析用作業距離：10 mm、SEM/EDS/EBSDの統合性能に最適化。
EDS統合によるリアルタイム定量元素マッピング；結晶解析のためのEBSDサポート。
自己整列型光学系およびSmartAlign技術により自動アライメントと常時撮像準備を維持。
走査中に動作するSmart Frame Integration（SFI）により検出器設定を動的に最適化し、高品質画像を生成。
オートフォーカスおよびオートスティグメーションなどの自動化機能により手動調整を低減し、取得を高速化。
複数の検出器オプション：Everhart‑Thornley二次電子検出器、反射電子検出器、キャソドルミネッセンス検出器、ビーム感受性試料向けの低真空オプション。
最高解像度要求に対応する磁気イマージョン選択可能な電気静的最終レンズ。
マルチサンプルホルダ付きの大型ステージと高速ポンプダウンによりスループットと作業効率を向上。

用途
Apreo ChemiSEM Systemは、複合材料、ポリマー、ナノ材料、触媒材料、磁性試料などを含む材料科学および産業系R&Dの用途に適しています。低加速電圧での動作は、微細で帯電しやすい試料の表面解析を可能にします。

リソースとメディア
ダウンロード可能な製品カタログ、画像ギャラリー、およびシステムの機能を紹介する紹介ビデオ（ティーザータイトル: "Introducing the new Apreo ChemiSEM System"）が利用可能です。

注意事項
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.

特性 / 技術仕様