観測用顕微鏡

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STEM顕微鏡
STEM顕微鏡
Helios 5 Hydra

分解能: 2, 5, 1, 4, 20 µm

... Thermo Scientific Helios 5 Hydra DualBeam(プラズマ集束イオンビーム走査電子顕微鏡、PFIB-SEM)は、4種類のイオン種(アルゴン、窒素、酸素、キセノン)を持ち、金属、電池、繊維複合材料、生体組織などのサンプルに対して最高の結果をもたらすイオンが選択できる多機能マルチアプリケーション・ツールです。走査型透過電子顕微鏡(STEM)や透過電子顕微鏡(TEM)のサンプル前処理、3D材料の特性評価、細胞クライオトモグラフィーなど、素晴らしい結果はサンプル前処理から始まります。 性能を犠牲にすることなく、アルゴン、窒素、酸素、キセノンを10分以内に簡単に切り替えることができます。この前例のない柔軟性により、PFIBの潜在的な応用空間が大幅に拡大し、イオン-サンプル相互作用の研究により既存の使用例を最適化することが可能になります。 Helios ...

電子顕微鏡
電子顕微鏡
NE4000

... 日立NE4000 nanoEBACは、マイクロエレクトロニクスデバイスの配線、材料、コンポーネントの電気特性評価、EBAC解析、イメージングを行う電子ビームベースのプロービングシステムです。 電子ビーム吸収電流(EBAC)技術は、低レベルの層を直接プロービングすることなく、インターコネクトに沿ってオープン回路、高抵抗、ショートを特定するための迅速で効果的な方法を提供します。 EBAC技術は、電子ビーム電流を吸収するために、誘電体層を通過して下層のメタライゼーション層まで電子ビームを流します。FESEMの電子ビーム加速電圧は、誘電体層を通過するプロービング深さまたは浸透レベルを制御します。露出した上層のメタライゼーション上にプローブを1本置いて回路を完成させ、電子が配線を流れるようにする。 日立が特許を取得した差動EBACアンプとともにデュアルプローブを使用することで、ゼーベック効果による高抵抗やショートの観察が可能になります。 使いやすいデザイン - ...

光デジタル顕微鏡
光デジタル顕微鏡
AM7115MZTW

倍率 : 10 unit - 50 unit
重量: 135 g
長さ: 10.5 cm

... マクロビュー観察用に設計された5MP Edge AM7115MZTWは、10倍から50倍の倍率範囲内で、広い視野と被写界深度を提供します。AM7115MZTW は、5MP Edge シリーズから受け継いだ驚異的な画質と照明の柔軟性により、要求の厳しいイメージング・タスクに幅広く対応します。 Edgeシリーズに採用されている優れた光学系は、最も要求の厳しい顕微鏡アプリケーションのニーズに応え、細部まで鮮明に映し出します。低損失のMJPEG圧縮により、先進的なCMOSイメージセンサーは、最大2592x1944の解像度で流れるような鮮明な画像を送信することができます。広視野(WFOV) ...

特殊照明付顕微鏡
特殊照明付顕微鏡
AM4117MT-G2FBW

倍率 : 10 unit - 220 unit
長さ: 10.5 cm

... AM4117MT-G2FBWは、465nmの励起光と510~545nmの発光バンドパスフィルターを備えており、緑色の蛍光を発するサンプルの選択的な分離と観察に理想的なソリューションです。 交換可能なキャップは、代替照明や対象物インターフェースなど、多くのアプリケーションに適応します。交換可能なフロントキャップは、Dino-Lite EdgeおよびEdgePLUSシリーズモデルで使用できるように設計されています。このキャップは、Dino-Liteデジタルマイクロスコープアプリケーションにさらなる多様性を提供します。 注:付属のキャップはモデルによって異なる場合があります。キャップの追加購入については、お近くの販売店または再販業者にお問い合わせください。 ...

電界放出形走査電子顕微鏡
電界放出形走査電子顕微鏡
SEM5000

倍率 : 1 unit - 2,500,000 unit
分解能: 1, 1.5, 0.8 nm
重量: 950 kg

... CIQTEK SEM5000は、高分解能、豊富な機能を備えた電界放出型走査電子顕微鏡(FE-SEM、FEG SEM)です。 先進的なカラム設計、高電圧トンネル技術(SuperTunnel)、低収差非漏洩磁気対物レンズ設計、低電圧高分解能イメージングを達成するために、磁性試料を適用することができます。光学ナビゲーション、高度な自動機能、よく設計された人間と機械の相互作用、および最適化された操作。 経験の有無にかかわらず、高解像度の撮影作業をすぐに始めることができます。 低加速電圧で高解像度撮影が可能。 電磁複合ミラーは収差を低減し、低電圧での解像度を大幅に向上させ、磁性試料の観察を可能にします。 高圧トンネル技術(SuperTunnel)。トンネル内の電子が高エネルギーを維持できるため、空間電荷の影響を低減し、低電圧での分解能を確保。 クロスオーバーのない電子光路により、システム収差を効果的に低減し、分解能を向上。 水冷式恒温対物レンズを採用し、対物レンズの安定性、信頼性、再現性を確保。 磁気偏向6穴調整可能なダイヤフラム、自動切り替えダイヤフラム穴、機械的な調整なし、高分解能観察または大きなビーム解析モード高速切り替えを達成するために。 ...

集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
集束イオンプローブ付走査型電子顕微鏡
DB500

分解能: 3, 1.2 nm

CIQTEK DB500 は、ナノ分析および試料調製用の集束イオンビームカラムを備えた電界放射型走査電子顕微鏡であり、「スーパートンネル」技術、低収差、無磁性対物レンズ設計が適用され、低電圧および高分解能を備えています。ナノスケールの分析能力を保証する能力。イオンカラムは、非常に安定した高品質のイオンビームを備えた Ga+ 液体金属イオン源を促進し、ナノ加工能力を保証します。 DB500 は、統合されたナノマニピュレーター、ガス注入システム、対物レンズ用の電気的汚染防止機構、および ...

検査用顕微鏡
検査用顕微鏡
B-510MET

倍率 : 5, 10, 20, 50 unit
分解能: 2 µm
重量: 12.3 kg

... 観察モード明視野、単純偏光、入射光に対する斜め照明。 落射照明とフィルター:X-LED8、白色8W LED(6.300K)、輝度調整機能付き。絞りとフィールドダイアフラム、斜光照明システム付き。偏光子とアナライザー付き。マルチプラグ100-240Vac/6Vdc外部電源。 ヘッド:三眼(固定50/50)、30°傾斜、360°回転。 瞳孔間距離:50~75mmの間で調整可能。 ディオプトリック調整:左接眼鏡筒上 接眼レンズWF10x/22mm、ハイアイポイント、ラバーカップ付。 ノーズピースボールベアリング回転式5回転ノーズピース。 すべて防カビ処理済み。 標本ステージ二重層ラックレスメカニカルステージ、233×147mm、78×54mm ...

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Optika Srl
透過型電子顕微鏡顕微鏡
透過型電子顕微鏡顕微鏡
JEM-ARM300F2

重量: 100 kg

新型原子分解能電子顕微鏡 "GRAND ARM™2" 登場! 原子分解能電子顕微鏡JEM-ARM300F "GRAND ARM™" を さらに進化させ、低加速から高加速までさまざまな加速電圧にて、超高空間分解能観察と高感度分析を両立させました。 新開発対物レンズFHP2 加速電圧300 kV対応の超高空間分解能観察用対物レンズポールピースFHPの性能はそのまま維持しつつ、大面積(158 mm2)SDDのX線取り出し角、検出立体角が向上するようにポールピースの形状を最適化しました。 その結果、超高空間分解能の性能を持ちながら、FHPの2倍以上の実効X線検出感度が実現しました。 エンクロージャーカバー GARM ...

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Jeol
光学顕微鏡
光学顕微鏡
UM 620 BD

倍率 : 50, 100, 200, 500 unit
重量: 23 kg

... 光学システム CCIS 接眼レンズ WF10倍(φ22mm) アクロマート対物レンズ ロングワーキングディスタンス PL L 5x/O.15BD WD=II mm(DIC観察用) PL L IOx/O.30BD WD=9.50mm (DIC観察用) PL L 20倍/O.45BD WD=3.40mm (DIC観察用) PL L 50倍/O.55BD WD=7.50mm ヘッド 傾斜角250 瞳孔間距離 55mm-75mm 視度調整±5 ノーズピース 五重の背部ボール ...

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echoENG
金属組織顕微鏡
金属組織顕微鏡
IMS20

長さ: 242 mm
: 200 mm

... - IMS-20倒立金相顕微鏡は優れた無限光学システムとモジュール機能設計思想を採用し、システムのアップグレードが容易で、極光観察、暗視野観察などの機能を実現します。 - コンパクトで安定した高剛性本体は、顕微鏡操作の振動防止要求を完全に具現しています。 - 人間工学的要求を満たす理想的な設計は操作をより便利、快適にし、より広いスペースがあります。 - 金属組織や表面形態のミクロ観察に適しており、金属学、鉱物学、精密工学の研究に理想的な装置です。 接眼レンズ ハイポイント超広視野接眼レンズ ...

金属顕微鏡
金属顕微鏡
MM1000A

倍率 : 10, 20, 50, 100 unit
重量: 11 kg

■ 高倍率観察や金属画像解析に ■無限光学システムにより、画質に影響を与えることなく偏光子、検光子などのアクセサリを光路に追加できます

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