概要TRUMPFの温度調節は、統合型パイロメーターで部品表面の熱放射を記録し、設定された目標温度に合わせてレーザ出力を制御します。レーザープラスチック溶着やレーザー表面硬化向けに設計され、複雑形状でも再現性の高い結果を実現します。スキャナー光学使用時は制御器がPFOの電子系に統合され、固定光学系向けにはコンパクトな制御ボックスを供給します。
主な利点- 精密なプロセス制御 — 目標温度および上限/下限パラメータの調整により再現性を確保。
- シームレスな統合 — パイロメーターを光学系に直接取り付け、TruControlでのパラメータ設定に対応。
- トレーサビリティ — 温度データの保存による品質記録。
- 早期検出 — 傾向表示によりプロセスの徐々の変化を早期に把握。
用途- レーザープラスチック溶着(準同時法):接合部の温度を測定し、スキャナー光学による閉断面の溶接で目標温度へ出力を調整します。
- レーザープラスチック溶着(輪郭法):固定ビーム下で部品を回転させる場合、接合部全体で均一な入熱を確保します。
- レーザー表面硬化:硬化中の表面温度を測定し、局所的にレーザ出力を制御してエッジや穴、コーナーでの蓄熱を防ぎ、均一な硬化深さを実現します。スキャナー光学や振動ビームにより多様な形状やトラック幅に対応します。
技術データ(比較)項目 | プラスチック溶接用温度調節 | レーザー表面硬化用温度調節
使用可能レーザ | TruDiode 151、TruDiode 301、他(要問合せ) | TruDisk 最大 6 kW
使用可能な焦点距離 | 200 / 250 mm (BEO D50); 200 / 280 mm、他は要問合せ(PFO 20-2 ポストオブジェクティブ) | 560 mm、他は要問合せ(PFO 20-2 ポストオブジェクティブ)
使用可能なコリメーション焦点距離 | 35 mm (BEO D50); 34.5 / 56 / 80 mm (PFO 20-2 ポストオブジェクティブ) | 80 mm (PFO 20-2 ポストオブジェクティブ)
パイロメーター測定範囲 | 180 °C - 520 °C (ε = 1) | 650 °C - 1600 °C
パイロメーター測定周波数 | 2 kHz (500 µs) | 4 kHz (250 µs)
温度制御クロック周波数 | 12.5 kHz (80 µs) | 12.5 kHz (80 µs)
代表精度 | 3 %(250 °C、年次校正) | 2 %(1000 °C、年次校正)
製品に関する追加情報パイロメーターは光学ユニットに直接取り付けられ、スキャナー統合時は制御器がPFO電子系に組み込まれます。固定光学用にはコンパクト制御ボックスを提供します。温度データの保存によりトレーサビリティを確保し、材料差や不純物による温度変化が検出された場合にレーザ出力を自動補正します。
特徴 / 技術仕様- 製品名:温度調節
- 統合:パイロメーターを光学系に直接結合、スキャナー光学使用時はPFO電子系に統合
- 納入品(固定光学):コンパクト制御ボックス含む
- パイロメーター測定範囲(溶接向け):180 °C – 520 °C (ε = 1)
- パイロメーター測定範囲(硬化向け):650 °C – 1600 °C
- パイロメーター測定周波数:2 kHz(低温域)、4 kHz(高温域)
- 温度制御クロック周波数:12.5 kHz(80 µs)
- 精度:低温域 3 %(250 °C時、年次校正前提)、高温域 2 %(1000 °C時、年次校正前提)
- 対応レーザ:TruDiodeシリーズ(例:TruDiode 151 / 301)、TruDisk(最大 6 kW、硬化用途)
- 焦点距離例:BEO D50 200 / 250 mm、PFO 20-2 ポスト 200 / 280 mm 等
- コリメーション例:35 mm、34.5 / 56 / 80 mm 等
- データ管理:温度データの記録および傾向表示による品質監視とトレーサビリティ