ホール効果測定システム DX-1000H

同心性抵抗率半導体用

DX-1000H高温ホール測定セットアップは、電磁石、真空ポンプ、高温真空チャンバー、ガウス計、定電流源、電磁石電流源、温度コントローラー、コンピューター、およびソフトウェアで構成されています。 ホール効果測定システムは、バルクキャリア濃度、シートキャリア濃度、モビリティ、抵抗率、ホール係数、および磁気抵抗を測定します。 DX-1000H高温ホール測定セットアップの作動原理 - 電磁石の電流源は、電磁石に電流を供給して磁場を生成します。 - ガウスメーターは、電磁石によって生成される均一な磁場の値を測定します。 - 一方では、定電流源は、ホール効果テストのためにサンプルにサンプルテスト電流を提供し、他方では、サンプルによってフィードバックされるホール電圧を測定するために使用される。 - テストされるべきサンプルは高温真空の部屋に置かれ、高温接着剤によって固定され、4つのテストポイントとして使用されます; - 高温真空チャンバーからのリード線は4つあり、そのうち2つは温度測定と制御のために温度コントローラーに接続され、もう1つはガウスメーターに接続された高温プローブのリード線です。そしてもう1つは定電流源へのホールサンプル接続ワイヤに接続されています。 - コンピューターはガウス計、温度コントローラー、定電流源、電磁石電流源に接続されており、ソフトウェアは測定対象のサンプルを通過する電流値と磁場値を制御し、測定された電圧値を取得します。 ホール測定セットアップのテスト可能な材料: - 半導体材料: SiGe、SiC、InAs、InGaAs、InP、AlGaAs、HgCdTeおよびフェライト材料など。 - 低インピーダンス材料: グラフェン、金属、透明酸化物、弱磁性半導体材料、TMR材料など。 - 高抵抗材料: 半絶縁GaAs、GaN、CdTeなど ホール测定セットアップのテクニカル指标: - 磁界: 10mmの间隔は2Tです; 30mmの间隔は1Tです; - サンプル流れ: 0.05uA ~ 50mA (调节可能な0.1nA); - 测定电圧: 0.1uV ~ 30V; - さまざまなテスト標準材料、シリコンとガリウムヒ素のすべてのレベルを提供します (感度と精度は異なります。 - 最小解像度: 0.1GS; - 磁界の範囲: 0-1T; - コンピューター通信用のガウスメーターまたはデータ取得ボードで使用できます。 - I-VカーブとI-Rカーブの测定など; - ホール係数やキャリア濃度などのパラメータの曲線を温度に合わせて変更する。 - 抵抗の範囲: 5*10-410 ~8Ω.cm; - 抵抗の範囲: 10mΩ-100GΩ; - キャリア集中: 6*10810 ~23Cm-3; - 移行率: 1 ~ 106Cm2/Vs; - 温度制御精度: 0.1K; - 温度ゾーン: 4K-773K (オプション); - ホール係数: ± 1*10-5〜 ± 1*1010Cm3/C; - テストは完全に自動化され、ワンクリックで処理されます。 - 同じ温度差を連続的に測定することができる。