ホール効果測定システム DX-70

同心性抵抗率半導体用

DX-70ホール測定システムは、半導体材料のキャリア濃度、移動度、抵抗率、ホール係数などの重要なパラメーターを測定するために使用されます。 これらのパラメータは、半導体材料の電気的特性を理解するために事前に制御する必要があります。 したがって、ホール効果テストシステムは、半導体デバイスと半導体材料の電気的特性を理解し、研究するための重要なツールです。 DX-70ホール効果測定システムは、電磁石、電磁石電源、高精度定電流源、高精度電圧計、マトリックスカード、ホール効果サンプルホルダー、標準サンプル、およびシステムソフトウェアで構成されています。 このHMSシステムテストでは、最新のKEITHLEYインポートされたテストソースメーターと、一致する低遅延および高帯域幅のマトリックスカードを組み合わせて使用します。これにより、サンプルの電源電流とテストサンプルのホール電圧の範囲と精度が大幅に向上します。 広い電流電源と広い電圧テスト範囲は、市場に出回っているほとんどの半導体デバイスをカバーできます。 実験結果はソフトウェアによって自動的に計算され、バルクキャリア濃度、シートキャリア濃度、モビリティ、抵抗率、ホール係数、磁気抵抗などのパラメーターを同時に取得できます。