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Chotestの実験用プロフィロメータ
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... 、角度、座標、直線偏差を計算する。 (5)実測値と公称値の比較 (6)測定 プログラムの自動実行 2.SJ5701は、表面粗さの評価が可能です。Ra、Rz、Rt、RS、RSm、Rp、Rv、Rq、Rt、Rmax、D、Rmr曲線、Rdc、など。 3.CNC自動モード対応、SPC統計・分析対応 4.CADファイルのインポートとCAD プロファイルの注釈をサポート。 5.PDF プロファイルデ ータのインポートに対応 6.テストデ ータのWord、Excel、AutoCADへのエクスポートが可能(オプション) 7 ...
Chotest Technology Inc.
... 対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立します。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する2D、3Dパラ メータが連続して得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラ メータの強力な分析機能を備 えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 ...
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... アルゴリズムの使用は、X、Zの2軸リンケージスキャンを実現することができ、ワークの表面でスタイラスを測定する プロファイルスキャン(アクティブスキャン)を行うには、一定の測定力を維持するだけでなく、ワークの平準化操作の能力を介して急な斜面の数が多いことを確認することは簡単であると同時に、針、吊りピンやその他の問題を欠けないようにする。フルスケールの広い範囲で連続スキャンが可能で、数百ミリ メートルの連続勾配上昇能力を持っているため、広範囲の急勾配を測定するのに非常に適しており、大きなワークも旋回や傾斜調整 ...
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... スタイラスナノ
プロファイラ NS200 は、表面粗さ、微小
プロファイル測定、マイクロ〜ナノの段差高さおよび薄膜厚さの接触式測定装置です。サブオングストローム分解能の変位センサー、超低ノイズ信号取得、微細な動作制御、先進的な較正アルゴリズムを採用し、非常に小さな接触力で様々な表面反射、材料、硬度に対応します。半導体、LED、太陽電池、MEMS、タッチパネル、車載、医療機器の検査に適しています。
用途
- 半導体
- 堆積膜の段差高さ <
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測定範囲: 0 mm
... フレキシブル・コンポーネント上のディスプレイ・ フィルム 半導体 蒸着膜の段差 薄膜レジストの段差 エッチングレート測定 化学機械研磨(腐食、孔食、曲げ) 大型基板 プリント基板の突起、段差 ウィンドウコーティング ウェーハマスク ウェーハチャックコーティング 研磨プレート ガラス基板とディスプレイ AMOLED 液晶画面開発時の段差測定 タッチパネル フィルムの厚み測定 ソーラーコーティング薄膜の測定 フレキシブル部材上の フィルム 有機受光素子 フィルムやガラスに印刷された有機 フィルム ...
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... 1.両面 プロファイルスキャン機能 T型スタイラスで表面をスキャンすることにより、対象物の プロファイルを取得し、ソフトウェアが プロファイルに基づいて2DサイズとGD&Tを計算することができます。 2.スレッドスキャン機能 普通ねじリング/プラグゲージ、テーパーねじリング/プラグゲージ、プレーンリング/プラグゲージ、台形ねじ、ノコギリねじ、多頭ねじワークピース、リードスクリューなどをスキャンすることができます。その後、このソフトウェアは、内径、外径、 プロファイルパラ メータなどの包括的なパラ メータを分析 ...
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... 回のスキャンで表面粗さと プロファイルの両方を測定することができます。また、大型非球面の測定・解析のための専用ソフトウェアモジュールも搭載しており、光学レンズ業界にとって理想的な測定ソリューションです。 また、ベアリング、人工関節、精密金型、歯車、ブレードなどの大型曲面の プロファイルと粗さ測定にも使用できます。その結果、精密機械加工、自動車、ベアリング、工作機械、金型、精密ハードウェアなどの産業で広く使用されています。 特徴 1.一度のスキャンで プロファイルと粗さパラ メータを同時に評価 2.高精度 ...
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... の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立します。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する2D、3Dパラ メータが連続して得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラ メータの強力な分析機能を備 えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 ...
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... モデル番号: SuperView W1-Lite 製品名: ナノ3D光学表面形状測定機 標準視野(0.98*0.98)mm 最大視野(6x6)mm 測定対象物の反射率:0.05 %~100 粗さRMSの再現性:0.01nm スキャン範囲:≤10ミリ メートル 分解能 0.1nm 段階の測定の正確さ: 0.3 % 段階の測定の反復性: 0.08% 1σ ...
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