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... W1 光学式 三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノ メーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、 3Dパラ メータが得られます。 ...
Chotest Technology Inc.
... W3 光学式 三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノ メーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、 3Dパラ メータが得られます。 ...
Chotest Technology Inc.
... 対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立します。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する2D、 3Dパラ メータが連続して得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラ メータの強力な分析機能を備 えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 ...
Chotest Technology Inc.
... W1 光学式 三次元表面形状測定機は、様々な精密部品のサブナノ メーター測定に最適な装置です。白色光干渉技術の原理に基づき、高精度Z方向スキャンモジュールと3Dモデリングアルゴリズムと組み合わせて、非接触で対象物の表面をスキャンし、表面の3D画像を作成することができます。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する一連の2D、 3Dパラ メータが得られます。 ...
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測定範囲: 1 mm
... サブナノ メートル単位で測定するために使用されます。白色光干渉計と共焦点顕微鏡の2つの高精度3次元測定器の性能を統合し、試料表面を非接触でスキャンし、3次元表面画像を再構築することができます。超平滑で透明な表面を測定する場合、白色光干渉モードを使用することで、高精度で歪みのない画像を得ることができ、粗さなどのパラ メータを解析することができる。鋭角な特徴を持つ粗い表面を測定する場合、共焦点顕微鏡モードで大きな角度の3Dトポグラ フィー画像を再構築することができ、表面3D画像をソフトウェアでデ ータ処理・解析 ...
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... の表面をスキャンし、表面の3D画像を確立します。XtremeVisionソフトウェアが3D画像を処理・解析した後、対象物の表面品質を反映する2D、 3Dパラ メータが連続して得られます。 SuperView W1は、あらゆる種類の表面形状・粗さパラ メータの強力な分析機能を備 えた、ユーザーフレンドリーな精密光学機器です。ユニークな光源により、滑らかな表面と粗い表面の両方を持つ様々な精密部品を測定することができます。 ...
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... 持つ粗い表面を測定する場合、共焦点顕微鏡モードを使用することで、大角度の3Dトポグラ フィー画像を再構成することができます。 大角度の3次元トポグラ フィ画像を再構成し、表面品質を反映した2次元・3次元パラ メータをデ ータ処理・解析することにより得ることができます。 ソフトウェアによる表面3D画像のデ ータ処理と解析により、表面品質を反映する2次元および3次元パラ メータを得ることができます。 ...
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... モデル番号: SuperView W1-Lite 製品名: ナノ3D光学表面形状測定機 標準視野(0.98*0.98)mm 最大視野(6x6)mm 測定対象物の反射率：0.05 %～100 粗さRMSの再現性：0.01nm スキャン範囲：≤10ミリ メートル 分解能 0.1nm 段階の測定の正確さ： 0.3 % 段階の測定の反復性： 0.08% 1σ ...
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