HAMAMATSUの測定システム

... み込みを前提に設計された非接触の膜厚測定装置です。半導体市場では貫通電極技術の採用によりシリコン厚の測定が重要視され、フィルム市場では接着層の薄膜化が進み、共に1 μm～300 μmの範囲での高精度な厚み測定が必要とされています。C12562の測定範囲は、500 nm～300 μmと幅広く、薄膜塗工厚からフィルム基板厚、さらには総厚まで測定可能です。また、最高100 ...

Ｃ10178は、分光干渉法を利用した非接触の膜厚測定装置です。分光干渉法により短時間で高感度・高精度に膜厚を測定します。また、弊社製品のマルチチャンネル分光器PMAを検出器として採用していますので、各種光学フィルタやコーティング膜などの膜厚測定と同時に、量子収率計測や反射計測、透過・吸収測定など多彩な測定項目を計測することが可能です。 • ...

... （合否判定） • 反射（透過）・スペクトル測定 • 高速・高精度解析 • リアルタイム測定 • 高さ変動に強い • 光学定数（n、k）解析 • 外部機器から制御 仕様 • 型名 : C11295-XX*1 • 測定膜厚範囲 （ガラス） : 20 nm～100 μm*2 • 測定再現性 （ガラス） : 0.02 ...

... タイプの膜厚測定装置です。顕微鏡を用いて微小領域での測定を行うことができます。マクロ計測では、散乱光が多くて受光しにくい凸凹表面の対象も、微小エリアを計測することで散乱光を減らし測定することが可能です。 特長 • ミクロ計測 • 高速・高精度解析 • 光学定数（n、k）解析 • 外部機器から制御 仕様 • 型名 : C10323-02 • ...

... 依存する蛍光スペクトル強度のP偏光成分の角度依存性（発光パターン）測定とシミュレーション結果との比較検討により、面内分子配向秩序を表す『パラメータS』の値が決定されています。 C14234-01は、新たに開発した蛍光のP偏光成分の角度依存性測定のための専用光学系と蛍光スペクトル測定を行うPMA-12マルチチャンネル分光器を組み合わせた装置です。専用ソフトウエアを用いて蛍光スペクトル強度におけるP偏光成分の角度依存性（発光パターン）測定を自動計測することができます。データは、テキスト形式で保存されますので ...

外部量子効率測定装置C9920-12は、有機ELや無機ELなどの発光デバイスを電流（電圧）励起し、発光するフォトン数を計測することで測定サンプルの外部量子効率を測定する装置です。 発光デバイスが光を外部へ取り出す効率は、発光層やガラス基板による吸収、反射ミラー面の反射効率など様々な要素が関係しています。C9920-12は、これら効率に関係する要素も含め、注入した電流（印加した電圧）に対して外部へ発光する効率を測定することが可能です。 • ...