HELMUT FISCHERの自動分光器

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®は、薄膜、微小構造や金属メッキを測定に適した測定器です。また、切替可能なコリメーターと一時フィルターを搭載しています。 測定対象が複雑であるほど、検出器の選択は重要な要素となります。FISCHERSCOPE X-RAY XDALは、3種類の半導体検出器から選択できます。 シリコンPINダイオードの検出器により、比較的大きな測定エリアにおける多層膜測定に適しています。CrNやTiNなどの硬質材料皮膜の分析などにも使用されます。 シリコン・ドリフト検出器（SDD）は、シリコンPINダイオードよりも高分解能を有する検出器です。電子部品産業や半導体産業における機能膜の測定などに適しています。また、薄い合金層または金とプラチナなどといった近似する元素の分析にも適しています。ENIGやENEPIGといったアプリケーションにおいて信頼性の高い品質管理ができます。 Fischerでは、より大きい面積のシリコン・ドリフト検出器（SDD）を搭載した測定器も提供しています。ナノメートル領域の薄膜の測定にも適しています。これらのXDAL測定器により、高い信頼性を必要とするスズウィスカー防止のためのはんだの鉛含有量を分析できます。

... ではない試験片でも測定が容易になります。つまり複雑形状でも測定ができます。 X線を上から下へ照射する他の利点として、測定タスクをプログラム化して自動測定が組めます。プログラム可能な測定ステージを搭載しており、XDL 240およびXDLM 237は、表面をスキャン（走査）して測定することにも適しています。大型パーツの膜厚測定ができ、また多数の小型パーツの自動測定もできます。 XDLMは、マイクロフォーカスチューブを搭載しており、特に小さなサンプルの測定に適したデバイスです。エレクトロニクス産業などにおける ...

... ではない試験片でも測定が容易になります。つまり複雑形状でも測定ができます。 X線を上から下へ照射する他の利点として、測定タスクをプログラム化して自動測定が組めます。プログラム可能な測定ステージを搭載しており、XDL 240およびXDLM 237は、表面をスキャン（走査）して測定することにも適しています。大型パーツの膜厚測定ができ、また多数の小型パーツの自動測定もできます。 XDLMは、マイクロフォーカスチューブを搭載しており、特に小さなサンプルの測定に適したデバイスです。エレクトロニクス産業などにおける ...

• ISO 3497およびASTM B 568に準拠した、極薄膜（< 0.05 μm）の自動測定とサブパーミルレンジの微細な材料分析に対応したプレミアムユニバーサルな蛍光X線式分析器。 • タングステンターゲット、マイクロフォーカスチューブ • 4種類のコリメーターで最適な測定条件を実現 • 6種類のフィルターにより、より複雑なタスクに最適な励起条件を設定可能 • 強力なシリコンドリフト検出器（SDD）、50 mm²の大きな検出器 • ...

... 10または20 µmの微小な測定スポットにX線を集束させます。これにより、XDV-µ WAFERは、従来の測定器よりもはるかに精密に微細構造部を測定することを可能にしています。この測定においては、自動測定で行うことができます。 特長 • 直径6～12インチのウェハー上の薄膜および多層膜システムの自動測定向けの特別仕様の測定器 • μ-XRFの微小スポットでさらに高い性能を発揮するマイクロフォーカスチューブUltra。モリブデンアノードはオプションです • ...

... プリント基板用プロフェッショナルシリーズ。 信頼性が高く、全自動！XDV®-µ PCB装置は、PCB上の極小構造物や極薄コーティングの測定に特化したソリューションです。 短い測定時間でも最高の精度を実現するFischer DPP+ ¹。 最小スポットサイズ10 µm（FWHM）の自社製ポリキャピラリー光学系²。 自動画像認識による信頼性の高い微小構造物の測定 プリント基板の自動蛍光X線品質管理 FISCHERSCOPE® ...