HELMUT FISCHERのXRF分光器

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®は、薄膜、微小構造や金属メッキを測定に適した測定器です。また、切替可能なコリメーターと一時フィルターを搭載しています。 測定対象が複雑であるほど、検出器の選択は重要な要素となります。FISCHERSCOPE X-RAY XDALは、3種類の半導体検出器から選択できます。 シリコンPINダイオードの検出器により、比較的大きな測定エリアにおける多層膜測定に適しています。CrNやTiNなどの硬質材料皮膜の分析などにも使用されます。 シリコン・ドリフト検出器（SDD）は、シリコンPINダイオードよりも高分解能を有する検出器です。電子部品産業や半導体産業における機能膜の測定などに適しています。また、薄い合金層または金とプラチナなどといった近似する元素の分析にも適しています。ENIGやENEPIGといったアプリケーションにおいて信頼性の高い品質管理ができます。 Fischerでは、より大きい面積のシリコン・ドリフト検出器（SDD）を搭載した測定器も提供しています。ナノメートル領域の薄膜の測定にも適しています。これらのXDAL測定器により、高い信頼性を必要とするスズウィスカー防止のためのはんだの鉛含有量を分析できます。

• DIN ISO 3497およびASTM B 568に準じたメッキ浴分析および膜厚測定 • XULMの最小測定スポット；約0.1mm • X線管球にマイクロフォーカスチューブ搭載（XULM） • 信頼性の高い比例計数管により短時間測定 • XULMのコリメーター：4種類を自動切換 • XULMの一次フィルター：3種類を自動切換 • XULM：手動XYステージ • 測定位置の簡単調整のためのビデオカメラ • 完全保護された認定されたデバイス アプリケーション • ...

• ナットやボルトなど大量生産部品における、鉄上の亜鉛や鉄上の亜鉛ニッケル合金などの電気メッキコーティング • メッキ浴の金属濃度分析 • Cr/Ni/Cu/ABSの装飾多層膜 • 電子産業のコネクターや接点の皮膜測定 FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®シリーズは、電気メッキ分析に最適な機種です。この簡単で手ごろなエネルギー分散型蛍光X線分析器は、メッキ浴の濃度分析の監視に最適です。また、ナットやボルトなどのような大量生産パーツ上のメッキコーティングの測定といった品質管理にも適しています。 XUL ...

• DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠した蛍光X線式測定器により、膜厚測定と組成分析、RoHSスクリーニングができます。 • 高品質な半導体検出器（PINおよびSDD）は、優れた検出精度と分解能。 • XAN 250および252：アルミニウムなどの軽元素の測定 • コリメーター： 固定または4種類切替式、最小測定スポット約0.3mm • 一次フィルター： 固定または6種類切替式 • 固定式測定ステージまたは手動式XY測定ステージ • ...

... 分析、価値判定、真贋判定 コンパクトで堅牢な卓上型蛍光X線分析装置で、宝石、硬貨、貴金属の分析を迅速、低コスト、非破壊で行うことができます。 金や貴金属を中心とした費用対効果の高い蛍光X線分析。 光り輝くもの全てが金とは限りません：GOLDSCOPE SD® を使えば、ジュエリーの真贋を確認したり、金や貴金属の組成を非破壊で迅速に分析することができます。GOLDSCOPE SD® ファミリーには様々な装置があり、金の迅速な売買から貴金属の高精度分析まで、特定の要求に対応します。様々な検出器、様々な省スペースのハウジングタイプにより、お客様の測定タスクや場所に適した使用が可能です。 お客様の安全 貴金属合金の最高の測定性能 クイック測定設計。 わずか数ステップで試料をセットし、測定準備完了。 多用途。 質屋、金取引、試験所、宝飾品メーカーに最適。 試運転。 測定タスクはあらかじめプログラムされているので、非常に迅速で簡単です。 バランス。 最適な費用対効果 DPP+デジタルパルスプロセッサー 測定時間の短縮または標準偏差*の改善 特徴 - ...

... 分析、価値判定、真正性チェック 宝石、硬貨、貴金属の最も強力で迅速な非破壊分析用に最適化された堅牢な卓上型蛍光X線分析装置です。 金と貴金属の蛍光X線分析。 GOLDSCOPE SD® 600は、金や宝飾品の検査や貴金属分析のためのフィッシャー社で最も強力な蛍光X線分析装置です。トップダウン測定では、試料は手動操作のシザーテーブルに置くだけです。レーザーポインターが位置決めの補助となります。そのため、複雑な形状のサンプルでも分析に支障はありません。 安全性 貴金属合金の最高の測定性能 多用途。 質屋、金取引、試験所、宝飾品メーカーに最適。 バランス。 最適な費用対効果 試運転。 測定タスクはあらかじめプログラムされているため、非常に迅速かつ簡単。 クイック測定設計。 わずか数ステップでサンプルを設置し、測定準備が完了します。 DPP+デジタルパルスプロセッサー。 測定時間の短縮または標準偏差*の改善 - ...

• X線規格DIN ISO 3497およびASTM B 568に準拠したXRF測定器 • 非破壊で薄膜の素材分析および膜厚測定 • Fischer社製のデジタルパルスプロセッサー"DPP+"とシリコンドリフト検出器(SDD)を搭載し、高信頼性および高分解能により、短い測定時間を実現 • 4つの切替可能なコリメーター：Ø 0.1 mm、Ø 0.3 mm、、Ø 1 mm、Ø 3 mm • 3つの切替可能な一次フィルター • ...

• エネルギー分散型蛍光X線スペクトロメーターによる、素材分析およびISO 3497とASTM B 568に準拠した膜厚測定 • XDLMの最小測定スポット: 約0.1 mm; XDLの最小測定スポット: 約0.2 mm • X線源：タングステンX線チューブ、またはタングステンマイクロフォーカスチューブ(XDLM) • X線検出器：比例計数管 • 固定または切替式コリメーター • 固定または自動切替式一次フィルター • 手動またはプログラム可能なXYステージ • ...

• エネルギー分散型蛍光X線スペクトロメーターによる、素材分析およびISO 3497とASTM B 568に準拠した膜厚測定 • XDLMの最小測定スポット: 約0.1 mm; XDLの最小測定スポット: 約0.2 mm • X線源：タングステンX線チューブ、またはタングステンマイクロフォーカスチューブ(XDLM) • X線検出器：比例計数管 • 固定または切替式コリメーター • 固定または自動切替式一次フィルター • 手動またはプログラム可能なXYステージ • ...

• ISO 3497およびASTM B 568に準拠した、極薄膜（< 0.05 μm）の自動測定とサブパーミルレンジの微細な材料分析に対応したプレミアムユニバーサルな蛍光X線式分析器。 • タングステンターゲット、マイクロフォーカスチューブ • 4種類のコリメーターで最適な測定条件を実現 • 6種類のフィルターにより、より複雑なタスクに最適な励起条件を設定可能 • 強力なシリコンドリフト検出器（SDD）、50 mm²の大きな検出器 • デジタルパルスプロセッサDPP+による高いカウントレートを実現し測定時間を短縮、測定結果の再現性向上 • ...