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温度域: 900 °C - 3,200 °C
分解能: 0.1 °C
スペクトル領域: 0.9 µm - 1.05 µm
... 反射環境放射および周囲 温度の補償
機能
- 過温度信号：内部温度
Keller Pyrometer Systems
温度域: 750 °C - 3,000 °C
スペクトル領域: 0.95, 1.05 µm
応答時間: 10 ms
... O のスケーリング、平滑化フィルタ、メモリ/ホールド、放射率、透過率、反射外乱放射の補償、アラーム限界とモード、ATD 機能（オプション）、線形化、電流/ 温度のシミュ レーション、単位 °C/°F、測定チャンネル選択（二色 / 単色）
Keller Pyrometer Systems
温度域: 1,000 °C
精度: 0.35 %
分解能: 0.2 °C
... CellaCrystal PX 44 は、Si および SiC 結晶の製造における光学式 温度測定用に開発されました。校正は特に成長プロセスに合わせて調整されています。測定範囲全体にわたって常に 0.1 K 未満の高分解能を実現するハイブリッド信号評価と、均一光セン サー技術による非常に高い長期安定性により、この装置は求められる測定精度に対する高い要求を満たします。 特集: PX 44 AF 4: シリコン結晶製造用の特殊校正 PX ...
Keller Pyrometer Systems
温度域: 400 °C - 2,000 °C
応答時間: 100 ms
... します。焦点調整可能なレンズと照準／ビデオにより測定
ポイントへ正確に合わせることができます。
仕様（技術データ）：
- 測定範囲：400 - 2000 °C
- センサー：サーモパイル
- スペクトル範囲：CO2帯
- 応答時間 t98：≤ 100 ms
- 測定不確かさ：温度表示の
Keller Pyrometer Systems
温度域: 700 °C - 1,700 °C
スペクトル領域: 0.8, 1.05 µm
応答時間: 20, 10 ms
... 、測定値/電流のシミュ
レーション、内部
温度上昇時の挙動（内部
温度 > 80 °C時のアナログ出力挙動）
一般仕様
接続：M12、8ピン
周囲
温度：0 – 65 °C
保管
温度：-20 – +80 °C
許容湿度：最大 95 % r.H.（結露しないこと）
寸法：Ø 65 mm ...
Keller Pyrometer Systems
温度域: 250 °C - 2,500 °C
スペクトル領域: 1.1 µm - 1.7 µm
応答時間: 50, 2 ms
... 診断用テスト電流出力
測定パラメータ（概要）：
セン サー：フォトダイオード
スペクトル範囲：1.1〜1.7 µm
応答時間 t98：≤ 50 ms（T > 250 °C）；≤ 2 ms（T > 750 °C）
測定不確かさ：読み値の0.3％（最小4 ...
Keller Pyrometer Systems
温度域: 500 °C - 2,500 °C
スペクトル領域: 0.78, 1.06 µm
応答時間: 2, 50 ms
...
Keller Pyrometer Systems
温度域: 500 °C - 3,000 °C
スペクトル領域: 0.95, 1.05 µm
応答時間: 10, 20 ms
... USB / RS 485
イン
ターフェース
技術データ（抜粋）
セン
サー：ダブルフォトダイオード
波長範囲：0.95 / 1.05 µm
応答時間 t98：レンジに依存 — データシート参照（典型 ≤ 10–20 ms）
測定不確かさ：
温度表示の 1 %
再現性：2 K
温度係数：0.05 ...
Keller Pyrometer Systems