Noraの標本準備システム

2 社 | 17
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
ポリマー標本準備システム
ポリマー標本準備システム
EM ACE900

... 非晶質凍結した構造体は、環境の影響を非常に受けやすく、アーティファクトの形成を防ぐ必要があります。詳細な画像評価を行うために最適な条件下で試料を作製します: 試料の周囲のコールドシールドが、試料表面で水分子が凍結するのを防止 • - プロセス全体を通して正確な温度制御 • - 清浄な割断ナイフ - 割断ごとにナイフの新しい部位を使用してコンタミネーションを防止 • - 瞬時に高速でビームコーティングを施すことができるため詳細な表面情報を取得 • - 保護された真空搬送で他の分析装置へ搬送 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
走査型電子顕微鏡用標本準備システム
走査型電子顕微鏡用標本準備システム
EM VCT500

... ライカEM VCT500を用いれば低温試料を大気に晒すことなく真空雰囲気下で搬送が可能です。 Leica EM VCT500 • - 多彩なワークフロー シス テムと接続できます。 • - 試料のアクティブ冷却と新設計バルブによりさらに試料搬送が最適化されました。 • - ワークフローの次の装置へドッキングする際は、随時、試料温度と真空をモニターします。 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
自動標本準備システム
自動標本準備システム
EM TP

ライカEM TPは、ライカが組織学と電子顕微鏡に関する分野で蓄積した知識により、今日研究所で求められる全ての要求に応える製品です。コンパクトでありながら、柔 軟性に優れ、光学顕微鏡(LM)と電子顕微鏡(EM)試料の両方の樹脂に使用できます。EM TPは、多面性と再現性、および安全な作業環境の確保をキーコンセプトとして開発されました。EM TPは基本ユニットとそれに追加されるEMまたはLM処理用の付加装置から構成され、EMとLM処理付加装置は簡単に交換できます。使いやすいコントロー ルパネルを使用して、99本までのプログラムに名前をつけて保存できます。使用する試薬は、ユーザーがリストの中から自由に選択できます。

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
染色用標本準備システム
染色用標本準備システム
EM CPD300

... ライカ EM CPD300は、花粉、組織、植物、昆虫などの生物試料の乾燥、工業材料では、MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) のSEM分析の前処理に用いることができます。 低CO2 消費量かつ短い処理時間に有効な新型フィラーコンセプトを開発しました。 また、ソフトウェアによる各種停止機能と廃液分離装置の内蔵により、より高い安全性を実現しました。 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
自動標本準備システム
自動標本準備システム
EM TXP

... いやすくきわめて時間を要する難しい作業でした。ライカ EM TXPを使えば、このような微小領域のターゲットサンプリングが短時間で簡単に行えます。 ●微小ターゲットの正確な配置と調製 ●高性能実体顕微鏡による観察 ●多機能、セミ・オート機械式 シス テムによる処理 ●断面の鏡面研磨工程は、自動制御により行うことが可能 ●高輝度なLEDリング照明 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
ポリマー標本準備システム
ポリマー標本準備システム
EM TIC 3X

... アップデートバージョンは、私たちのモットー「with the user for the user (ユーザーとともにユーザーのために)」に基づき、加工効率と柔軟性を実用的な方法で統合しました。 最新の EM TIC 3X の 2 倍になった加工速度は、5種類の試料 ステージとの組み合わせにより、試料作製のニーズに効率よく柔軟に対応します。 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
走査型電子顕微鏡用標本準備システム
走査型電子顕微鏡用標本準備システム
EM TRIM2

... 実体顕微鏡と角度調整済みの照明を備えた試料トリミング装置です。タング ステン・カーバイドとダイヤモンド切削ツールのどちらでも使用できます。対象物部 分をセンタリングして、ブロック面を平坦に切削することができます。SEM用にはEM TRIM2だけで作業が完了し、そのまま顕微鏡にかけられます。TEMとLM用にはピポット・アームの角度を調節して試料をトリミングし、希望する形状を作 成します。作業はすべて実体顕微鏡で観察しながら行えます。 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
標本準備システム
標本準備システム
EM RAPID

... 近赤外分光測定法による医薬品有効成分の分散状態の測定に向けた丸剤および錠剤の断面の断面試料を作製するために設計されています。 タング ステンカーバイドまたはダイヤモンド製ミリングカッターを用いることにより、丸剤のコーティングに起因する切断面の汚れを生じることなく、丸剤のカプセルを除去しミリングすることができます。 ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
標本準備システム
標本準備システム
EM RES102

... 備えています。独自のイオンビームミリング シス テムは、TEM、SEM、LMサンプルの前処理を1台のベンチトップユニットで行うことができます。 多彩なサンプルホルダーにより、多様なアプリケーションに対応します。ライカEM RES102は、高エネルギーのイオンビームミリングに加えて、低エネルギーのイオンビームを使用した非常に穏やかなサンプル処理にも使用できます。 主な特徴 効果的で費用対効果が高い - TEM、SEM、LMアプリケーションのための1つの シス テム - ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
自動標本準備システム
自動標本準備システム
EM ICE

... 高圧凍結は、微細構造または細胞ダイナミクスの複雑な変化を捕えます。 光刺激、または電気刺激と組み合わせた高圧凍結は、ダイナミックな構造変化を高度な時間分解能で保存、新たな知見を発見するためのプラットフォームです。 • - 凍結と光刺激をミリ秒で同期させることで、最も興味深い瞬間を捕えることができます • - 1nmのスケールの構造的な分解能とミリ秒の時間分解能の精度で、ダイナミックな生体の動的なプロセスを捕え観察に繋げる事ができます。 • - 高圧下で含水試料を凍結固定して、世界の神秘を発見してください ...

その他の商品を見る
Leica Microsystems GmbH
自動標本準備システム
自動標本準備システム
CAMPIONE

製品を出展しましょう

& 当サイトからいつでも見込み客にアプローチできます

出展者になる