テープ測定システム

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協調型測定機
協調型測定機
FlatScope®

... 世界最高精度の平面ワーク測定用2次元スキャナー 現場や測定室での高い精度が要求される光学式2次元測定を高速に行うことができます。 フラットスコープは、画像処理センサーが測定物を支えるガラス板の下に配置された革新的な設計原理を持っています。そのため、ピント合わせに時間がかかることなく、すべてのワークがシャープに撮像されます。また、フラットライトを使用することで、測定範囲全体にわたって均一なテレセントリック物体照明が可能となり、輪郭画像処理により、輪郭フィルターやエレメントフィルターを使用することで、信頼性の高い測定が可能となります。適用分野は、箔、プリント基板、レーザー、ファインブランキング部品など、より大きな2次元ワークの測定です。 - ...

長さ測定システム
長さ測定システム
BMG x000 BV series

... タップライン測定器は、タップライン、直定規、ヤードスティック、および目盛りの付いたあらゆる試験体の手動校正と試験を可能にします。5mまでの長さに対応する手動式として。 手動メジャーキャリブレータBMG 2000、3000、5000手動メジャーキャリブレータBMG 2000、3000、5000手動メジャーキャリブレータBMG 2000、3000、5000 - メジャールーラー、テープ、フォールディングメーターの手動校正に使用する標準メジャーテープ校正器です。 - ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
0 - 2mm(6mm,12mm) | 0.1 µm | CHY-CB

... 用途 — フィルムおよびフォイル試験、紙および板紙試験、繊維および不織布試験、金属板試験、食品包装 試験特性 — 厚さ 試験方法 — テーブル型接触方法 規格 — ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702 特長 — 自動リフティング押 し足 — リアルタイム表示テスト結果 — 最大値、最小値、平均値 — ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
C640

... C640 厚さ試験機は、フィルム、シーティング、紙、段ボール、織物、不織布、固体断熱材などの厚さ測定に使用できる高精度の機械的接触法の厚さ試験機です。オートサンプラーは、複数の連続ポイントの厚さ測定のために設計されているオプションです。 プロフェッショナル 革新的な研究開発によって、Labthink C640 の厚さのテスターは科学的な構造および専門の制御技術によって支えられる高精度の変位センサーを使用します、それは C640 を安定性、反復性注1 および正確さで非常に改善しました。 - ...

ビデオ測定システム
ビデオ測定システム
NEXIV VMZ-K3040

明視野とコンフォーカルの2系統の光学系を搭載。二次元測定に加えて、高速・高精度な視野内一括高さ測定を実現します。 二次元測定と高さ測定が可能な1台2役の高機能システム 明視野画像による二次元測定に加えて、コンフォーカル光学系による視野内一括高さ測定を実現。明視野測定では検出が難しいサンプルも、コンフォーカル光学系なら高速/高精度な測定が可能です。 微細配線パターンの測定 明視野では難しい輝度差の激しいサンプルでも、形状と高さを正確に捉えて検出できます。 プローブカードの測定 プローブカードの微細なコンタクト部分のXYZ座標を、視野内一括測定します。 高精度プリント基板パターンの測定 測定視野内の高反射面と低反射面のエッジが正確に検出できます。

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Nikon Metrology
厚さ測定システム
厚さ測定システム
iTiM

... 高精度で完全自動のオンライン厚み測定には、幅広い用途に対応できる高度な技術的専門知識が必要です。特定のアプリケーションを正確に理解し、要求される精度を考慮することで、個々のアプリケーションに合わせたオーダーメイドのソリューションが生まれるのです。 例えば、レーザー測定システムは使いやすく比較的安価ですが、絶対的な測定精度という点では物理的な制約があります。 そこで、数十年の経験に基づくEMGの総合的なソリューション能力が発揮されるわけですが、それはEMG製品の幅広いアプリケーションに反映されています。EMGは、熱間・冷間圧延、プロセスライン、ホイルアプリケーションに加えて、スチールやアルミのサービスセンター、自動車産業向けの信頼性と実績のある品質保証ソリューションも提供しています(図参照)。 レーザーベースの厚み測定システムEMG ...

厚さ測定システム
厚さ測定システム
Essair™ Duplex

... エッセア™ デュプレックス ESSAIR™ DUPLEXは、エレクトロニック・システムズ社が特許を取得した測定技術で、非接触で直接厚みを測定するのに最適です。 主な特長 放射性物質を使用していません。 ミクロンまたはミリ単位で直接厚みを測定します。 被測定物に触れることなく測定できます。 自動校正システム カテゴリセンサー タグ複合材料, PVCカレンダー, ゴム, シート・フォイル. 解説 ESSAIR™ DUPLEXは、標準的なスキャナーに取り付けて送信モードで測定します。 剛性の高い素材や、非常に高い巻取り張力を持つ素材に特に適しています。 このセンサーは、アプリケーションで要求される特定のニーズに応じてカスタマイズすることができます。 - ...

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Electronic SYSTEMS
位置測定システム
位置測定システム

説明:[保温カップ視覚温度測定システム]は、赤外線熱画像、マルチモーダルフュージョン、正確な画像レジストレーションを使用し、さまざまな温度画像効果に従って不良品を判断し、ロボットを使用して不良品を選別します。 データパラメータ:認識率99%以上、誤検出率1%未満、温度測定20万回/月、処理速度20s/枚以下

直径測定システム
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FDRF092

... PBL、ABL箔を用いたラミネートチューブの非接触スキャン、幾何学的パラメータ測定用 形状測定システムとは PBL箔やABL箔を使用したラミネートチューブの非接触スキャニングや形状パラメータ測定を行うためのシステムです。 特徴 - 測定径13~50mmまで対応 - 直径測定精度: ±10 µm FDRF092の用途 - 大量生産 仕様 測定径 13mm〜50mm 直径測定精度 ±10μm 箔厚範囲 0.05mm - 0.5mm 箔厚・溶着厚測定精度 ±5 ...

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