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... 製品概要 FTI‑1000 Wafer HVは、パワー向けディスクリート素子およびワイドバンドギャップ技術の高カバレッジ・ウェハーテスト向けに設計されたウェハーレベルのATEシステムです。Wafer HVバリアントは高電圧のDC/ACソースを備え、1サイトのプローブ用途で6 kV DCおよび5.5 kV ACまでの要件に対応します。
選定理由
- 柔軟な構成 — Tester‑per‑Channel Boardのモジュラーアーキテクチャにより独立したリソースとスケーラブルな拡張が可能
- 網羅的な電気試験
... UHV-341は、変圧器および電気機器の絶縁体における湿気による劣化や局所的欠陥の診断を目的とした携帯型タンデルタ（損失係数）テスターです。製造、設置、引き渡し、予防保守の試験に適しています。
概要／機能
- 誘電損失（tgδ）および容量（Cx）を測定し、変圧器絶縁および関連部品の評価を行います。CVT自励試験でのC1/C2同時測定をサポートします。
- 逆配線時の低電圧シールド測定をサポートし、CVT母線接地条件下でも配線を外すことなく10
... 半導体パワーデバイスC-V特性試験装置 静電容量-電圧（C-V）測定は、半導体パラメータ、特にMOS CAPとMOSFET構造の測定に広く使用されています。MOS（金属-酸化膜-半導体）構造の静電容量は、印加電圧の関数です。MOSキャパシタンスが印加電圧によって変化する曲線はC-V曲線（C-V特性と呼ばれる）と呼ばれる。C-V曲線試験により、二酸化ケイ素層の厚さdox、基板ドーピング濃度N、酸化膜中の可動電荷面密度Q1、固定電荷面密度Qfcなどを容易に求めることができる。 -広い周波数範囲：周波数範囲は10Hz~1MHzで、連続周波数ポイント ポイントは調節可能である； -高精度で広い範囲：0V～3500Vのバイアス範囲を提供し、精度は 0.1%; -CVテスト内蔵：自動CVテスト・ソフトウェア内蔵。 -C-V（キャパシタンス電圧）、C-T（キャパシタンス時間）、C-F（キャパシタンス周波数）など； -IV ...