大型サンプル用顕微鏡

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デジタル顕微鏡
デジタル顕微鏡
DVM6

... 「DVM6デジタル顕微鏡は、革新的なチルト光学系機能により、顕微鏡観察に革命をもたらします。この最先端技術により、ユーザーは光学系の角度を容易に調整でき、観察において比類のない柔軟性と汎用性を実現します。高解像度の画像撮影と直感的な操作性を備えたDVM6は、さまざまな用途において、正確かつ詳細な観察を可能にします。 DVM6で顕微鏡観察の体験を新たな次元へ。チルト光学系が、デジタル顕微鏡における柔軟性と精度の概念を一新します。 手動による粗動調整機能を備えた電動精密XYステージ 自動3D画像スタック用の電動フォーカス(手動でのフォーカス調整も可能) 画像の取得・管理、2D測定および注釈付け、深い被写界深度を持つ画像、オートフォーカス機能、3D表示および測定が可能なマルチフォーカス画像、2Dおよび3Dでの自動XYパノラマ撮影を含むソフトウェアパッケージ 仕様: - ...

光学顕微鏡
光学顕微鏡
ZEISS Axiolab 5

倍率 : 20 unit
長さ: 304 mm
: 210 mm

... デジタルドキュメンテーションはかつてないほど簡単になりました。ZEISS Axiolab 5は材料構造分析のルーチンワークにおけるニーズに応え、人間工学に基づいた操作と効率的なデジタルドキュメンテーションを実現します。スマートマイクロスコープシステムには、追加のイメージングソフトウェアもコンピュータも必要なく、Axiolab 5はコスト面でも理想的なチョイスです。 デジタルドキュメンテーションが簡単に 人間工学に基づく設計が快適なラボワークを実現 高い経済性と信頼性 デジタルドキュメンテーションが簡単に 関心領域を見つけ、鏡基右側にあるスナップボタンを押すだけで、簡単に画像取得が完了します。手を離すことなく顕微鏡と搭載されたカメラを操作できるため、試料の観察に集中できます。 人間工学に基づく設計が快適なラボワークを実現 人間工学に基づいて設計されたAxiolab ...

X線顕微鏡
X線顕微鏡
ZEISS XRADIA Context microCT

... ZEISS Xradia Context®マイクロ断層撮影(microCT)は、あらゆる種類の試料の解析に対応する使い勝手の良いシステムです。ピクセル密度が高いアレイ検出器により、比較的大きなイメージングボリュームでも細部まで高分解能を確保できます。当該システムは、広視野、迅速な試料マウントおよび配置、効率化された取得ワークフロー、短い露光時間およびデータ再構成時間を特徴としています。 実用可能な電池や電子部品を含む大型製品、生物標本などの大きい試料などを非破壊にて3Dデータの取得 ...

モジュール式顕微鏡
モジュール式顕微鏡
BXFM

分解能: 0.2 µm
重量: 9 kg
長さ: 587 mm

BXFMは明視野、暗視野、微分干渉、簡易偏光、蛍光観察に対応した装置組み込対応モデルです。光源にはハロゲンランプハウス、ファイバ照明が選択可能で、他にも電動レボルバ、結像レンズユニットなどとの組み合わせで、幅広い対応が可能なシステムです。

光学顕微鏡
光学顕微鏡
MX63 series

分解能: 1 µm

MX63/MX63Lは最大300mmサイズのウエハーや液晶パネル、電子基板などのサンプルが検査できる大型の顕微鏡です。さまざまなアプリケーションに対応するモジュールを組み合わせることでお客様に有益なシステムを提供することができます。さらにOLYMPUS Stream画像解析ソフトウェアと組み合わせることで観察からレポート作成までのシームレスなワークフローを提供します。

金属組織顕微鏡
金属組織顕微鏡
DS series

... 倒立顕微鏡は、コンパクトで耐久性があり、高倍率が必要な場合に使用されます。平坦な試料面を持つマウント試料の分析に最適で、BF、DF、DIC、POLの複数の光源を使用できるように装備されており、複数の分析を行うことができます。 硬さ試験などの一般用途向け倒立顕微鏡のエントリーモデル。 工業用や材料科学用の倒立顕微鏡で、不透明な試料(金属の粒径、粒界、相、変態、介在物、非金属などの微細構造の調査や研究、試料の前処理や処理など)用に設計されています。 メタログラフィーラボでの不透明試料用に特別に設計されています。お客様のお好みに合わせて自由に設定できるレンズ、FN24ハイアイポイント、無限遠補正光学系、同軸フォーカシング、メカニカルステージ、明るさを調整できるハロゲン12V/100Wの落射照明アタッチメントを搭載しています。頑丈で信頼性が高く、人間工学に基づいた位置にすべての主要なコントロールを装備し、20年以上の使用を可能にする長持ちする効率的なLED照明を備えています。 ...

AFM顕微鏡
AFM顕微鏡
NX20

... パークNX20は、200mmまでの試料を扱うすべての研究所のためのAFMプラットフォームです。NX20は、アカデミックなアプリケーションから半導体や故障解析まで、デカップリングXYスキャンシステムによる正確で再現性の高い測定、ローノイズZディテクタによる表面粗さ測定、表面粗さ精度のための先端シャープネスを保証するTrue Non-Contact™ Mode、幅広い高解像度スキャンモード、モジュール設計といった独自の機能を提供します。NX20は、そのデータ精度と再現性の高い測定により、半導体やハードディスク産業で広く使用されており、生産性や分析効率の向上に貢献しています。 300mm版のPark ...

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