Sistema de teste MOSFET MX300C

para IGBTautomático

A série MX300C é um sistema automatizado de teste de características térmicas para semicondutores de potência. É constituída por uma unidade de amostragem, uma unidade de controlo da temperatura, uma unidade de alimentação e uma unidade de controlo do sistema. É principalmente adequado para o ensaio de ciclos de potência e o ensaio de resistência térmica de semicondutores de potência, tais como IGBT (materiais Si/SiC/GaN), MOSFET, DIODE, etc., para avaliar o desempenho do semicondutor de potência durante a vida útil. Funções Teste de ciclo de potência Teste de resistência térmica/Teste de resistência térmica transitória (Rth/Zth) Teste da curva K Resistência térmica da junção à caixa (RJC) Teste de corrente de fuga de porta (IGES) Vantagens do produto Alta precisão para placa de temperatura constante. Função de diagnóstico de falhas em tempo real. Função de monitorização remota. Proteção múltipla: temperatura excessiva, alarme de fumo, deteção de fugas de líquido de refrigeração, etc. Compatibilidade: Teste IGBT/DIODE/MOSFET/BJT/SCR. Sistema de alimentação UPS: garante a segurança do sistema e dos dados em condições de desativação. . Teste de ciclo de energia . Ensaio de resistência térmica/ensaio de resistência térmica transitória (Rth/Zth) . Ensaio da curva K