Sistema de teste de performance MX700KGD-600
não especificadopara IGBTin situ

Sistema de teste de performance - MX700KGD-600 - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - não especificado / para IGBT / in situ
Sistema de teste de performance - MX700KGD-600 - Hefei Kewell Power System Co., Ltd. - não especificado / para IGBT / in situ
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Características

Tipo de teste
de performance
Aplicações
para IGBT
Formato
in situ
Outras características
automático

Descrição

Introdução ao produto
A série MX700KGD é um sistema automatizado de teste e triagem dinâmico/estático para dies nus, destinado principalmente a chips SiC MOS e IGBT. O sistema é composto pela unidade de teste, equipamentos de automação e conjunto de probe card, e mede corrente e tensão nominais para avaliar o desempenho elétrico e a integridade do die.

Operação
O mecanismo de elevação da estação de teste eleva o porta-die até que a probe card entre em contato com o die. A câmara de pressão da probe card é selada e realiza a calibração automática da altura do die para garantir contato estável.

Ficha técnica
Parâmetros técnicos de teste dinâmico
Parâmetros técnicos de teste estático

Características
  • Cobertura completa de testes com funções configuráveis conforme necessidades do cliente, incluindo inspeção visual e testes dinâmicos/estáticos em temperatura elevada ou ambiente;
  • Capacidade de alta tensão e alta corrente para realizar testes conforme as especificações nominais dos dies nus;
  • Baixa parasiticidade: indutância parasitária do sistema inferior a 20 nH;
  • Alta produtividade: UPH de teste até 600 peças ou mais;
  • Proteção por gás para evitar arco e oxidação durante os testes.


Características / Detalhes técnicos
  • Dispositivos aplicáveis: triagem dinâmica/estática para dies de potência como SiC MOS e IGBT;
  • Composição do sistema: unidade principal de teste, equipamentos de automação (porta-die, mecanismo de elevação) e conjunto de probe card;
  • Capacidade de teste: medição de corrente nominal e tensão nominal e realização de triagem de conformidade;
  • Elevação e contato: o sistema de elevação move o porta-die até o contato da sonda; a câmara de pressão da probe card garante contato selado e estável;
  • Autocalibração: função de calibração automática da altura do die;
  • Características elétricas: suporta testes de alta tensão e alta corrente para atender às especificações nominais dos dies nus;
  • Parâmetros parasitários: indutância parasitária do sistema < 20 nH;
  • Produtividade: UPH de teste ≥600 peças/hora;
  • Proteção: blindagem gasosa para prevenir arco e oxidação durante os testes;
  • Configurabilidade: funções e configurações de teste personalizáveis conforme o cliente, com suporte a inspeção visual e testes dinâmicos/estáticos a diferentes temperaturas.

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ELECTRONICA 2026
ELECTRONICA 2026

10-13 nov 2026 Munich (Alemanha) Hall A4 - Stand 625

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    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.