Sistema de teste para laboratório MX710D SiC

para semicondutoresin situde precisão

Apresentação do produto
A série MX710D é um sistema de teste dinâmico de laboratório para SiC, composto por fonte de alimentação CC programável de alta precisão, unidade de fixação (fixture), unidade de medição e controlo, unidade de comando do driver, unidade de proteção e instrumentos de teste complementares. Utiliza software de teste de sistema desenvolvido pela empresa para fornecer uma plataforma estável e precisa para testes de parâmetros dinâmicos de dispositivos SiC, abrangendo características de turn-on, turn-off, recuperação inversa da diodo e comportamento em curto-circuito.

Características do produto

• Projetado para uso em laboratório com funções de teste abrangentes; suporta testes de pulso único, duplo e de curto-circuito;
• Dispõe de proteção contra sobrecorrente que interrompe rapidamente o circuito de corrente em caso de falha do dispositivo;
• Indutância parasita extremamente baixa através de design compacto para atender aos testes de comutação em alta velocidade de SiC;
• Alta compatibilidade: configurável para diversos dispositivos, módulos e circuitos mediante equipamentos e fixtures de teste correspondentes;
• Interface HMI amigável para operação simples.

Interface do produto / Imagens
(A página fornece vários espaços reservados para imagens de demonstração; a página real mostra diagramas do produto e capturas de tela da interface)

Âmbito de aplicação
Indicado para laboratórios de teste de características dinâmicas de dispositivos de carboneto de silício (SiC), para verificação de parâmetros e P&D.

Características / Especificações técnicas (resumo)

• Modelo: série MX710D;
• Dispositivos aplicáveis: dispositivos de potência SiC (carboneto de silício);
• Componentes do sistema: fonte CC programável, unidade fixture, unidade de medição e controlo, unidade de comando do driver, unidade de proteção e instrumentos de teste complementares;
• Tipos de teste suportados: turn-on, turn-off, recuperação inversa da diodo, curto-circuito; suporta testes de pulso único e duplo;
• Proteção: proteção contra sobrecorrente com interrupção rápida do circuito;
• Design: baixa indutância parasita para atender aos testes de comutação em alta velocidade de dispositivos SiC;
• Software: software de teste de sistema desenvolvido pela empresa e HMI.