Visão geralPerfilômetro óptico 3D compacto (plataforma Micro.View) para medição sem contato de rugosidade e topografia de superfície. Projetado como solução de entrada para substituir sistemas de palpador, fornece avaliações areais e de perfil aptas para componentes de fosco a altamente refletivos.
Destaques- Avaliação de rugosidade conforme ISO: parâmetros R (perfil) e S (areal)
- Design compacto de bancada para laboratórios e controle de qualidade
- Estágio XY motorizado opcional (curso de 75 mm na versão Advanced)
- Opções de upgrade e trade‑in disponíveis
Vantagens principais- Medição areal 3D completa (Sa, Sq, Sz, etc.) além dos parâmetros de perfil 2D (Ra, Rz…)
- Medição óptica sem contato que evita danos e captura a topografia completa
- Tecnologias de varredura integradas (avaliação de correlograma e SST/CST) para varreduras robustas em materiais reflexivos, escuros, de baixo contraste ou transparentes
- Resolução vertical sub‑nanométrica e baixo ruído de medição
Aplicações / Casos de uso típicos- Substituição/upgrade de medidores por palpador para perfilômetros ópticos para análise mais completa da textura superficial
- Laboratórios de controlo de qualidade que exigem conformidade com normas areais (ISO 25178)
- Medição de superfícies sensíveis ou macias sem causar danos
- Deteção precoce de problemas funcionais da superfície através de dados areais
- Medições de área mais rápidas para produção e P&D
Configurações do produto e características- Entregue em configurações Roughness Tester predefinidas com base na plataforma Micro.View para otimizar preço de entrada vs. desempenho
- Cabeça sensor com capacidade de resolução vertical sub‑nm e torre de objetivas de 5 posições
- Base compacta com isolamento de vibração integrado
- Objetiva padrão 10× incluída; objetivas adicionais opcionais
- Software para avaliação de rugosidade conforme normas (ISO 25178, ISO 4287, ISO 4288, ISO 21920, ASME B46.1)
Opções — Basic vs Advanced- Versão Basic: Perfilômetro económico para componentes padrão e verificações simples de rugosidade. Estágio tip/tilt manual integrado para alinhamento da amostra.
- Versão Advanced: Recomendado para amostras de tamanho médio e necessidades de automação. Inclui estágio XY motorizado de 75 mm (x e y) e tip/tilt manual. Permite alinhamento reprodutível e True Stitching para ampliar a área de medição.
EspecificaçõesDesempenho topográfico — Alcance vertical (posicionamento e medição): 100 mm
Ruído de medição: < 0.6 nm
Repetibilidade: < 0.2 nm
Medição — Reflectância da amostra: 0,05 a 100 %
Área de medição (com objetiva 10×): 0,79 mm × 0,58 mm
Área máxima com True Stitching (10×): 171 mm²
Espaçamento de pontos (10×): 0,59 µm
Pontos de dados: 1.352.000 (pixels efetivos)
Posicionamento de amostras — Tamanho da mesa: 140 mm × 140 mm
Estágio XY: Basic: Nenhum; Advanced: percurso motorizado 75 mm (x e y)
Estágio tip/tilt: Manual
Software — Parâmetros de avaliação conforme normas: ISO 25178, ISO 4287, ISO 13565, ISO 21920, ASME B46.1
Automação: Receitas de medição e avaliação; True Stitching (com estágio XY motorizado)
Downloads e recursos adicionaisFolha de dados e whitepapers disponíveis na página do produto (títulos de ficheiros referenciados no site).