Profilômetro óptico TopMap Micro.View+

3Dinterferométricocom interferometria de luz branca

Analisando parâmetros de forma e rugosidade, textura, detecção de arranhões e defeitos, microestruturas, MEMS ou componentes semicondutores com resolução subnm? O Micro.View+ é o profilômetro de superfície com máxima repetibilidade e precisão de medição. PROFILÔMETRO ÓPTICO MODULAR PARA RUGOSIDADE EM NM E MICROESTRUTURAS O TopMap Micro.View+ é a nova geração de tecnologia de medição óptica de superfície da Polytec. Seu design modular permite várias configurações, adaptadas às suas tarefas de inspeção de superfície, seja para textura, microestruturas, forma ou rugosidade em peças fabricadas com precisão ou microssistemas. O Micro.View+ foi projetado para laboratórios de medição e pesquisa, mas também é adequado para aplicações em linha por meio da integração de sensores puros. Visualize sua topografia 3D e use o modo colorido para uma visualização e diferenciação mais significativas, por exemplo, de defeitos de superfície ou para documentação. Opcionalmente disponível com uma câmera de 5 MP. O abrangente pacote de acessórios simplifica e acelera suas medições. Enquanto o Focus Finder e o inovador Focus Tracker sempre mantêm as amostras de teste em foco em todas as circunstâncias e durante o reposicionamento, a mesa de posicionamento totalmente motorizada oferece suporte à costura e ao teste automatizados, enquanto ajusta automaticamente a ponta/inclinação. + Interferômetro de luz branca de primeira classe com resolução subnm + Faixa de medição vertical de 100 mm com tecnologia de varredura contínua CST + Localizador de foco e rastreador de foco ideais para o controle automatizado da produção + Modo colorido para análise profissional e documentação de defeitos + Modular para configurações específicas