Profilômetro 3D TopMap Micro.View+
ópticopara medição da rugosidade de superfíciesde medição de forma

profilômetro 3D
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Características

Tecnologia
3D, óptica
Função
para medição da rugosidade de superfícies, de medição de forma, para medição de espessura, para medição de vibrações, de geometria, para teste de fricção, para posicionamento, de monitoramento de deformações
Aplicações
para a indústria automotiva, industrial, para semicondutor, para linha de produção, para perfis, de laboratório, para sala limpa
Outras características
sem contato, automática, em linha

Descrição

TopMap Micro.View®+ é o perfilador de superfície óptica da próxima geração. Projetado para modularidade, esta estação de trabalho abrangente permite inspeções de rotina rápidas e eficientes, bem como configurações personalizadas e específicas de aplicação para análise extensiva de microtopografia. O Micro.View®+ permite a análise mais detalhada da rugosidade da superfície, da textura da superfície e da topografia da microestrutura. Combine dados 3D com informações coloridas para visualizações surpreendentes e análises ampliadas como documentação detalhada de defeitos. A câmera de 5 MP de alta resolução proporciona uma visualização de dados 3D incrivelmente detalhada das superfícies projetadas. A torre codificada e motorizada assegura uma transição perfeita entre os objetivos. Micro.View®+ apresenta o mais recente Focus Finder mais Focus Tracker, mantendo a superfície em foco em todas as circunstâncias. Os estágios de posicionamento das amostras totalmente motorizados permitem a costura e a automação.

VÍDEO

Feiras de negócios

Próximas feiras onde poderá encontrar este fornecedor

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 jun 2024 Frankfurt am Main (Alemanha)

  • Mais informações
    * Os preços não incluem impostos, transporte, taxas alfandegárias, nem custos adicionais associados às opções de instalação e de ativação do serviço. Os preços são meramente indicativos e podem variar em função dos países, do custo das matérias-primas e das taxas de câmbio.