Profilômetro óptico TopMap Micro.View

3Dinterferométricocom interferometria de luz branca

Perfilador óptico compacto para microestruturas e rugosidade O TopMap Micro.View® é o perfilador de superfície compacto da linha TopMap de interferómetros de luz branca, que permite inspecções de superfície repetíveis e de alta resolução de microestruturas, textura, acabamento e parâmetros de rugosidade areal (Sa, Sz, ...). Analise as suas superfícies rapidamente e com uma resolução inferior a nm! Com a tecnologia de varrimento contínuo CST integrada, o curso de 100 mm no eixo Z oferece uma gama de medição completa de 100 mm com uma resolução vertical na ordem dos nanómetros. Este perfilómetro óptico caracteriza-se pelo seu design compacto com electrónica integrada e impressiona pela facilidade de utilização - por exemplo, através da função Focus Finder automática para medições rápidas e eficientes em ambientes de produção e laboratórios de teste. + Análise topográfica 3D e de área total de rugosidade, texturas e microestruturas + Sistema de perfilagem compacto para análise de pormenores da superfície + Grande gama de medição vertical de 100 mm com a tecnologia de varrimento contínuo CST + Excelente resolução lateral + Medição com resolução sub-nanométrica em Z + NOVO: Opções de lentes alargadas 0,6X ... 111X agora disponíveis Contacte-nos para demonstrações, estudos de viabilidade das suas amostras específicas e mais informações.