Probe card vertical

de alta corrente

Nossos cartões de sonda avançados são ferramentas essenciais para testes a nível de wafer na fabricação de semicondutores. Esses cartões permitem testes precisos de chips IC antes de serem montados em substratos, ajudando a detectar defeitos precocemente no processo de produção e melhorar a qualidade geral do produto. Ao transmitir e receber sinais elétricos para cada pino no wafer, os cartões de sonda coletam dados de teste vitais, garantindo que cada chip funcione conforme o esperado. Eles desempenham um papel crítico na identificação de problemas durante as etapas iniciais da produção de semicondutores. Aumente a eficiência dos testes com cartões de sonda de tipo vertical avançado: Ao contrário dos cartões de sonda de tipo cantilever tradicionais, nosso design avançado de tipo vertical suporta testes simultâneos de múltiplos chips e medições de wafer completo. Isso aumenta drasticamente a produtividade e reduz o tempo de teste. Graças à tecnologia de contato de precisão, esses cartões também suportam testes de alta frequência e alta corrente com confiabilidade excepcional. Seu design fácil de usar facilita a manutenção, minimizando o tempo de inatividade e maximizando a produtividade. Quer você esteja buscando otimizar seu processo de teste ou melhorar a precisão das medições, oferecemos soluções flexíveis adaptadas às suas necessidades. A Estrutura dos Cartões de Sonda Avançados Os cartões de sonda avançados da Seiken são projetados para excelência, apresentando uma cabeça de sonda e um substrato de cartão de sonda (PCB). Cada cabeça de sonda é projetada e fabricada internamente, utilizando tecnologia de usinagem de alta precisão. Essa abordagem garante precisão e desempenho confiáveis. - Cabeça de sonda: Usinada a partir de plásticos de engenharia ou cerâmicas, moldada para atender às suas necessidades de teste. - Os materiais disponíveis incluem: - Resina – plásticos: Sumika Super, Topfine e outros plásticos de engenharia. - Cerâmicas: Photoveel, entre outros. Esses materiais oferecem excelente durabilidade e fixação estável da sonda, ajudando a criar o ambiente de teste ideal. - Substratos de cartão de sonda: Dois tipos de PCB são oferecidos para se adequar ao seu ambiente de teste. - PCB personalizado (para produção em massa e testes críticos de desempenho): Projetado especificamente para a aplicação de cada cliente, esses PCBs permitem máxima personalização e condições de teste precisas. - PCB geral: Compatível com muitos fabricantes de testadores principais, esses PCBs oferecem configurações flexíveis usando fios de jumper e blocos de pinos para se adequar a uma ampla gama de testes. Nota: Alguns PCBs gerais são designs proprietários da Seiken. - Opções de conexão: Adaptadas às suas necessidades de teste. - PCB personalizado (Alta precisão, Sem fiação): O design de acoplamento direto conecta a cabeça de sonda ao PCB, eliminando a fiação interna e minimizando a perda de sinal. Vantagens: Custos de longo prazo mais baixos para ambientes de produção em massa. Ideal para aplicações com layouts de dispositivos fixos. - PCB geral (Flexível e Altamente Compatível): Projetado com uma abertura central, essa configuração permite uma montagem flexível da cabeça de sonda. Vantagens: Excelente versatilidade para designs em evolução. Considerações: Resistência de fiação ligeiramente mais alta, tornando-o menos adequado para testes de alta frequência ou baixa corrente. Características Principais e Vantagens - Posicionamento preciso e medição precisa de chips individuais: Projetado para versatilidade, facilmente reversível para permitir testes de chips individuais após o corte. Estruturas de guia opcionais e coberturas de contato simplificam o alinhamento dos chips e garantem uma sondagem precisa. - Manutenção fácil com sondas substituíveis: Mantenha o desempenho ideal com tempo de inatividade mínimo - o design permite substituir a seção da sonda de forma independente, eliminando a necessidade de desmontar todo o dispositivo. Economiza tanto tempo quanto custos de manutenção. - Soluções personalizadas, desde unidades únicas até produção completa: A Seiken colabora de perto com os clientes para criar cartões de sonda adaptados a condições de teste únicas e requisitos de desenvolvimento. Quer você precise de um protótipo único ou suporte de produção em larga escala, as soluções são entregues para atender às suas necessidades em cada etapa. Exemplos de Aplicação - Testes a nível de wafer - Verificação de design IC - Depuração, etc. Características / Especificações Técnicas - Design de cartão de sonda de tipo vertical para testes simultâneos de múltiplos chips e de wafer completo - Suporta testes de alta frequência e alta corrente - Cabeças de sonda feitas de plásticos de engenharia (Sumika Super, Topfine) ou cerâmicas (Photoveel) - Opções de substrato PCB personalizadas e gerais - Opções de conexão direta e flexível - Seção de sonda substituível para manutenção fácil - Personalizável para aplicações específicas do cliente - Compatível com os principais fabricantes de testadores