Microscópio SEM CLARA

para inspeção de materiaisde bancadaautomático

• Caracterização total de todos os tipos de materiais em nanoescala • Ideal para caracterização de materiais em baixa aceleração de feixe para máxima topografia da superfície • Excelente imagem de amostras sensíveis ao feixe e não condutoras • Configuração totalmente automatizada do feixe de elétrons – condições ótimas de imagem são garantidas pelo In-Flight Beam Tracing ™ • Navegação intuitiva do MEV ao vivo na amostra com baixa ampliação 2 vezes, sem a necessidade de câmera de navegação óptica extra, graças ao design Wide Field Optics ™ • Design exclusivo do detector múltiplo, permitindo detecção seletiva de BSE em ângulo e energia • Plataforma modular de software intuitiva projetada para operação sem esforço, independentemente do nível de habilidade dos usuários