Microscópio SEM VEGA

para análisespara pesquisapara inspeção

O microscópio eletrônico de varredura (SEM) de 4ª geração VEGA de TESCAN com fonte de elétrons de filamento de tungstênio combina imagens SEM e análise de composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o VEGA SEM uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina dos materiais nos laboratórios de controle de qualidade, análise de falhas e pesquisa. • Plataforma analítica com o TESCAN Essence™ EDS totalmente integrado, que combina com eficiência a imagem SEM com a análise da composição elementar em uma única janela do software Essence™. • Ótimas condições de imagem e analíticas disponíveis imediatamente, graças ao design óptico sem abertura da TESCAN, alimentado pelo in flight Beam Tracing™. • Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão baixas quanto 2 × sem a necessidade de uma câmera de navegação óptica adicional devido ao design exclusivo Wide Field Optics™. • Modo SingleVac™ como um recurso padrão para observação de amostras sensíveis a carga e feixe. • Software Essence™ intuitivo e modular, projetado para operação sem esforço, independentemente do nível de experiência do usuário. • A segurança máxima dos detectores montados na câmara quando o palco e a amostra estão em movimento é garantida com o modelo Essence™ 3D Collision. • Detectores opcionais SE e BSE na coluna estão disponíveis, incluindo a tecnologia de desaceleração de feixe para melhorar o desempenho da imagem em tensões de aceleração mais baixas.