Microscópio SEM MIRA

para controle da qualidadepara pesquisapara inspeção de materiais

O Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM) de 4ª geração MIRA de TESCAN com a fonte de emissão de elétrons da FEG Schottky combina imagens SEM e análise da composição elementar ao vivo em uma única janela do software Essence™ da TESCAN. Essa combinação simplifica significativamente a aquisição de dados morfológicos e elementares da amostra, tornando o MIRA SEM uma solução analítica eficiente para inspeção de rotina de materiais nos laboratórios de controle de qualidade, análise de falhas e pesquisa. • Ótimas condições de imagem e analíticas disponíveis imediatamente, graças ao design óptico sem abertura da TESCAN, alimentado por In-flight Beam Tracing™ • Navegação SEM sem esforço e precisa na amostra em ampliações tão baixas quanto 2 ×, sem a necessidade de uma câmera de navegação óptica adicional devido ao design exclusivo Wide Field Optics™. • Modo SingleVac™ como um recurso padrão para observação de amostras sensíveis a carga e feixe. • Software Essence™ intuitivo e modular projetado para operação sem esforço, independentemente do nível de experiência do usuário. • A segurança máxima dos detectores montados na câmara quando o palco e a amostra estão em movimento é garantida com o modelo Essence™ 3D Collision. • Detectores opcionais SE e BSE na coluna estão disponíveis, incluindo a tecnologia de desaceleração de feixe para melhorar o desempenho da imagem em tensões de aceleração mais baixas. • Plataforma analítica modular que pode ser opcionalmente equipada com a mais ampla seleção de detectores totalmente integrados (por exemplo, CL, espectrômetro BSE refrigerado a água ou RAMAN).