Sistema de inspeção óptico AM018TH

automáticode qualidadepara a indústria eletrônica

O sistema de inspeção de wafers AM018T é uma solução rápida, precisa e abrangente que permite detetar e classificar wafers por tamanho, espessura, manchas, lascas, resistividade, microfissuras, tipo P/N, orifícios, etc. Pioneiro em sistemas de classificação de wafers no mercado nacional Aproveitando o excelente desempenho de inspeção e a automação fiável, o sistema de inspeção ganhou boa reputação e tornou-se a primeira escolha de clientes a nível global. O Sistema de Inspeção de Wafer de Alta Velocidade foi especificamente concebido para a inspeção de qualidade no final da linha, após os processos de corte e limpeza na fabricação de wafers, e serve como a verificação de qualidade final antes do envio dos wafers. Função principal: Realizar a inspeção e classificação abrangentes das pastilhas, garantindo que apenas as pastilhas qualificadas entrem no processo de fabrico de células, alcançando assim uma melhor qualidade a preços mais competitivos. Os dados gerados pelo sistema de inspeção de pastilhas também podem ser transmitidos ao processo de corte anterior para otimização do processo e melhoria do rendimento. Vantagens tecnológicas: a) Equipamento essencial para a produção em massa de células solares de alta eficiência, respondendo à tendência para wafers de grandes dimensões (182-230 mm, inteiros e cortados ao meio) e mais finos (100-240 μm); b) Inspeção baseada em IA: a combinação de algoritmos tradicionais e aprendizagem profunda permite identificar defeitos complexos, tais como microfissuras (comprimento ≥ 0,5 mm), marcas de serra (±3 µm) e TTV (±2 µm), de forma mais precisa e estável, com uma taxa de deteção superior a 98%; c) Elevada estabilidade e baixa taxa de quebra: tirando partido da tecnologia de transferência não destrutiva do tipo Bernoulli