Sistema de medição efeito Hall DX-70

de concentricidadede resistividadepara semicondutor

O sistema de medição DX-70 Hall é utilizado para medir parâmetros importantes, como a concentração de portadores, a mobilidade, a resistividade e o coeficiente Hall de materiais semicondutores. Estes parâmetros devem ser controlados antecipadamente para compreender as propriedades eléctricas dos materiais semicondutores. Por conseguinte, o sistema de teste do efeito Hall é uma ferramenta importante para a compreensão e investigação de dispositivos semicondutores e das propriedades eléctricas dos materiais semicondutores. O sistema de medição de efeito Hall DX-70 é composto por um eletroíman, uma fonte de alimentação de eletroíman, uma fonte de corrente constante de alta precisão, um voltímetro de alta precisão, um cartão matriz, um suporte de amostra de efeito Hall, uma amostra padrão e um software de sistema. Este teste do sistema HMS utiliza o mais recente medidor de fonte de teste importado da KEITHLEY, combinado com o cartão de matriz de baixa latência e alta largura de banda, o que melhora muito a gama e a precisão da corrente de alimentação da amostra e a tensão Hall da amostra de teste. A ampla fonte de alimentação atual e a ampla gama de testes de tensão podem abranger a maioria dos dispositivos semicondutores no mercado. Os resultados experimentais são calculados automaticamente pelo software, e parâmetros como a concentração de portadores a granel, a concentração de portadores em folha, a mobilidade, a resistividade, o coeficiente Hall e a magnetoresistência podem ser obtidos ao mesmo tempo.