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Sistema de medição antirroubo DX-9000 series
de resistividadeefeito Hallpor condutividade

Sistema de medição antirroubo - DX-9000 series - Xiamen Dexing Magnet Tech. Co., Ltd. - de resistividade / efeito Hall / por condutividade
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Características

Grandeza física
de resistividade, antirroubo, efeito Hall
Tecnologia
magnético, por condutividade
Modo de funcionamento
automático
Produto medido
para semicondutor, para materiais magnetostritivos
Aplicações
para aplicações industriais, para laboratório, para teste de componente
Outras características
configurável

Descrição

Visão geral
  • A série DX-9000 é um sistema totalmente automatizado de medição de propriedades de transporte elétrico para caracterização do efeito Hall, magnetorresistência (R–H), resistência dependente da temperatura (R–T) e características I–V. Integra instrumentos de medição de precisão (por ex. Keithley), fontes de campo magnético selecionáveis (eletroímãs ou ímãs supercondutores sem hélio líquido), suportes de amostra configuráveis e software de teste automatizado para medições repetíveis.


Funções
  • Medir efeito Hall, características R–H (resistência vs campo magnético), características R–T (resistência vs temperatura) e características I–V (resistividade).
  • Derivar parâmetros: resistência de folha, resistividade, coeficiente de Hall, mobilidade Hall, concentração de portadores e tipo de condutividade.
  • Gerar saídas características: curvas de parâmetros dependentes da temperatura ou do campo magnético; curvas I–V sob campos e temperaturas variados; gráficos R–H e R–T para análise e relatórios.


Principais características
  • As medições de resistividade, coeficiente Hall e mobilidade Hall estão em conformidade com a norma ASTM‑F76.
  • Ampla faixa de medição de resistência e resistividade conforme a configuração (de ultra‑baixa ≈100 nΩ até altas resistências até 100 GΩ em configurações específicas).
  • Placa de amostra plug‑in com placa de quatro pontas fornecida para simplificar a montagem da amostra e reduzir a preparação de eletrodos.
  • Configuração padrão mede dois samples simultaneamente; expansão opcional suporta quatro samples.
  • Sequências de medição e cálculo automatizadas via software dedicado; um conjunto de dados típico de efeito Hall pode ser obtido em cerca de 3 minutos.
  • Campo magnético altamente estável (estabilidade 24 h < ±0,5 G) com cruzamento suave do zero; fonte do eletroímã inclui gaussímetro integrado e controle fino (resolução 0,1 G; exemplo rampa 0→1 kG em ~20 s).
  • Opções selecionáveis de controle de temperatura permitem medições Hall e de resistência em amplas faixas de temperatura.


Configurações disponíveis e capacidades chave
  • Sistemas padrão (modelos): DX-9003, DX-9005, DX-9007 — mobilidade até ~1×10^5 cm^2/Vs; faixa de concentração de portadores ~6×10^12 a 6×10^21 cm^-3; resistividade 5×10^-7 a 5×10^2 Ω·cm.
  • Sistemas de alta sensibilidade (modelos): DX-9003HS, DX-9005HS, DX-9007HS — mobilidade até ~1×10^6 cm^2/Vs; concentração de portadores até ~6×10^23 cm^-3; resistividade até ~5×10^-9 Ω·cm.
  • Sistemas de alta resistência (modelos): DX-9003HR, DX-9005HR, DX-9007HR — concentração de portadores de ~6×10^8 até ~6×10^23 cm^-3; resistividade até ~5×10^6 Ω·cm; medição de resistência até 10 GΩ.
  • Opções de ambiente térmico: caixa de azoto líquido monoponto (77 K); termostatos de azoto líquido (standard 80–325 K; alta temperatura 80–500 K); refrigeradores de circulação (4 K–325 K ou 10 K–325 K); forno de alta temperatura (325 K–1000 K).
  • Ambientes de campo magnético: eletroímãs à temperatura ambiente (ex.: 1 T @10 mm; 2,4 T @10 mm; 2,6 T @10 mm dependendo do modelo); criostatos de temperatura variável (ex.: 0,44 T @ LN2 até 2,0 T @ LN2 dependendo do modelo; 0,26–1,5 T para refrigeradores de ciclo fechado dependendo do tipo).
  • Componentes opcionais: plataformas criogênicas supercondutoras sem hélio líquido (série CFMS, 5 T–18 T, 1,6 K–400 K), opções óticas (polo de cabeça polar, caixa de blindagem óptica com caminho), mecanismo rotativo, bomba de vácuo, unidade de refrigeração por água em circuito e opções adicionais de temperatura/campo magnético.


Especificações técnicas
  • Série / modelos: série DX-9000 (variantes Standard, HS, HR: DX-9003/9005/9007; DX-9003HS/9005HS/9007HS; DX-9003HR/9005HR/9007HR).
  • Propriedades medidas: efeito Hall, magnetorresistência (R–H), resistência dependente da temperatura (R–T), características I–V.
  • Parâmetros derivados: resistência de folha, resistividade, coeficiente Hall, mobilidade Hall, concentração de portadores, tipo de condutividade.
  • Faixas de medição de resistência (por configuração): Standard ≈ 10 mΩ – 10 MΩ; Alta sensibilidade ≈ 0,1 mΩ – 10 mΩ (opção baixa resistência 100 nΩ – 10 mΩ); Alta resistência 0,1 mΩ – 10 GΩ.
  • Capacidade da fonte de corrente: Standard/HS ±50 pA – ±1,05 A (ex.: ±1,05 A @ ±21 V, ±105 mA @ ±210 V); HR ±0,1 pA – ±0,1 A; resolução de medição: HS/Standard até 10 pA / HR até 10 fA.
  • Fonte/medição de tensão: faixas e resoluções exemplos: Standard resolução mínima 0,1 μV (±0,1 μV – ±200 V); HS ±1 nV – ±100 V; HR ±1 nV – ±100 V.
  • Faixas de resistividade: Standard 5×10^-7 – 5×10^2 Ω·cm; HS 5×10^-9 – 5×10^2 Ω·cm; HR 5×10^-9 – 5×10^6 Ω·cm.
  • Faixas de mobilidade: Standard até ~1×10^5 cm^2/Vs; HS/HR até ~1×10^6 cm^2/Vs (dependendo do modelo).
  • Faixas de concentração de portadores: Standard ~6×10^12 – 6×10^21 cm^-3; HS até ~6×10^23 cm^-3; HR de ~6×10^8 – 6×10^23 cm^-3 (dependendo do modelo).
  • Estabilidade do campo magnético: estabilidade 24 h < ±0,5 G; gaussímetro integrado e controlo fino; cruzamento suave do zero.
  • Tamanhos máximos de amostra (exemplos por variante): 10 × 10 × 3 mm; 30 × 30 × 3 mm; 50 × 50 × 3 mm.
  • Número de amostras medidas simultaneamente: Standard 2 (expansível a 4); configurações HS/HR típicas para uma única amostra em alta sensibilidade/alta resistência.
  • Área de instalação típica (exemplos): 2 m × 1,5 m; 5 m × 2 m (dependendo da configuração).
  • Nota sobre precisão de teste: sob as suposições indicadas (espessura da amostra 100 nm, campo 10 000 Gauss, coeficiente de correção 1): precisão de medição da resistência ≈2 %; resistividade, coeficiente Hall, concentração de portadores e mobilidade ≈5 %.

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