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... • Espectrômetros universais de fluorescência de raios-X para análise de metais e metais preciosos, medição de espessura de revestimento e triagem RoHS de acordo com DIN ISO 3497 e ASTM B 568 • Detectores de semicondutores premium (PIN ...
HELMUT FISCHER SRL
... • Teste de ouro não destrutivo, rápido e preciso • Câmara de medição espaçosa • Design compacto e robusto, destinado a uso de longo prazo • Nenhuma preparação de amostra necessária. Basta colocar o item na janela de medição na câmara de medição • ...
HELMUT FISCHER SRL
... autenticidade. Robusto aparelho de bancada XRF optimizado para a análise mais potente, rápida e não destrutiva de jóias, moedas e metais preciosos, também adequado para peças maiores. Análise por fluorescência de raios X ...
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... distância de medição através do método patenteado DCM Análise universal por fluorescência de raios X para camadas muito finas. O FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 é o analisador XRF universal da Fischer para a determinação ...
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... • Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer for automated material analysis and non-destructive measurement of coating thickness according to ISO 3497 and ASTM B 568 • Smallest measuring spot XDLM: approx. 0.1 mm; smallest measuring spot XDL: ...
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... circuit boards • Video camera for easy fixing of the measurement location • Certified full-protection devices Os espectrômetros FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® e XDLM® estão intimamente relacionados à série XUL . Todos os componentes ...
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... detector de desvio de silício (SDD) de alta qualidade oferece melhor resolução de energia do que o diodo PIN de silício. Os espectrômetros XDAL assim equipados são usados para resolver tarefas de medição complexas na indústria eletrônica: ...
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... acordo com a atual legislação de protecção contra radiações O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDDD é um dos instrumentos de fluorescência de raios X mais potentes do portfólio da Fischer. Este equipamento de Raio-X está equipado com um detector ...
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espectrômetro de fluorescência de raios XFISCHERSCOPE® XDV®-µ
... mais finos < 0,1 µm • Tubo microfocus Ultra com ânodo de tungstênio para um melhor desempenho nos menores pontos com a µ- XRF; ânodo de molibdênio opcional • Filtro 4 vezes substituível • Detector de desvio de silício extremamente ...
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... O FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD é o instrumento XRF líder da indústria para aplicações de conectores e eletrônica. A distância de medição única de 12 mm permite medir peças de teste de forma complexa, tais como PCBs montados com uma altura ...
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