Sistemas de posicionamento módulos combinados STEINMEYER

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sistema de posicionamento multieixos
sistema de posicionamento multieixos
782300:150.26

Repetibilidade: 1 µm
Carga: 15 kg
Curso: 200 mm - 1.000 mm

... aplicações dinâmicas e de alta precisão - Grande amplitude de deslocação de 1300 x 800 mm - Acelerações e velocidades elevadas combinadas com elevada precisão Este pórtico permite movimentos altamente dinâmicos numa ...

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Steinmeyer Holding GmbH
sistema de posicionamento multieixos
sistema de posicionamento multieixos
782430:002.26

Repetibilidade: 0,3 µm - 2,5 µm
Carga: 5 kg - 20 kg
Curso: 100 mm - 720 mm

... semicondutores - Grande raio de deslocação de 2 x 720 x 720 x 100 mm cada - Permite a integração de dois processos em simultâneo Este sistema de inspecção é composto por quatro eixos de sala limpa e permite a medição ...

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Steinmeyer Holding GmbH
sistema de posicionamento multieixos
sistema de posicionamento multieixos
782335:009.26

Repetibilidade: 0,005 µm - 4,4 µm
Carga: 5 kg - 25 kg
Curso: 100 mm - 365 mm

... sistema de posicionamento de 8 eixos / goniómetro Personalizável - Inspecção automatizada de 8 eixos a partir de diferentes ângulos - Sistema de rotação coaxial que gira as câmaras / ...

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Steinmeyer Holding GmbH
sistema de posicionamento XYZ
sistema de posicionamento XYZ
Art.-ID 217999

Repetibilidade: 0,3 µm - 0,4 µm
Carga: max 30.0 kg
Curso: 100 mm - 200 mm

... perfeita com ± 0,5 µm e planaridade com ± 1 µm - Interface e possibilidades de ajuste independentes da planeza Este sistema de posicionamento XYZ foi especialmente concebido para medições de alta precisão ...

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Steinmeyer Holding GmbH
sistema de posicionamento de 3 eixos
sistema de posicionamento de 3 eixos
782300:130.26

Repetibilidade: 0,3 µm - 0,5 µm
Curso: 50 mm - 200 mm
Velocidade: 30 mm/s

... Sistema de posicionamento XYZ para inspeção ótica automatizada de alta precisão Personalizável: - Ideal para processos de inspeção automatizados de alta precisão - Elevada repetibilidade até 0,3 µm - ...

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sistema de posicionamento XYZ
sistema de posicionamento XYZ
782300:221.26

Repetibilidade: 0,3 µm - 0,4 µm
Curso: 100 mm - 200 mm
Velocidade: 15 mm/s - 25 mm/s

... Sistema XYZ com controlador Personalizável: - Ideal para a configuração e expansão da sua aplicação - Repetibilidade altamente precisa até 0,3 µm - Passos mais pequenos e maior fiabilidade a uma velocidade de posicionamento ...

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sistema de posicionamento XZ
sistema de posicionamento XZ
782300:120.26

Repetibilidade: 0,001 µm - 4,5 µm
Curso: 50 mm - 360 mm
Velocidade: 50 mm/s - 200 mm/s

... Sistema XZ-Phi Personalizável: - Ideal para configurar os seus sistemas de metrologia de alta precisão - Resoluções do sistema de medição na gama submicrométrica até 0,1 µm / 0,0001° - ...

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sistema de posicionamento XYZ
sistema de posicionamento XYZ
782300:113.26

Repetibilidade: 0,5 µm - 1,5 µm
Curso: 50, 150, 300 mm
Velocidade: 25 mm/s

... Sistema XYZ para laboratório e inspeção de bolachas Personalizável: - Ideal para a configuração e expansão da sua aplicação - Repetibilidade altamente precisa até 0,5 µm - Passos mais pequenos e maior fiabilidade a uma ...

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sistema de posicionamento XZ
sistema de posicionamento XZ
782300:186.26

Repetibilidade: 0,4 µm - 2,2 µm
Curso: 100 mm - 300 mm
Velocidade: 1,12 mm/s - 25 mm/s

... até 0,4 µm - Passos mais pequenos e maior fiabilidade a uma velocidade de posicionamento comparativamente elevada de 50 mm/s - Planicidade perfeita de ± 1 para o posicionamento de cargas médias até 5 ...

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