Sistemas de preparação de amostras Hitachi

... TEM, etc., extraindo uma micro amostra com um feixe de iões na câmara de vácuo de um sistema FIB. Unidade de microamostragem FIB e método de microamostragem FIB Um exemplo de amostragem ...

... - O elétrodo do tipo magnetrão diminui os danos nas amostras e reduz o tamanho médio das partículas - Câmara opcional para amostras até 6 pol. (150 mm) de diâmetro - Espaçador opcional para amostras ...

... superfície da amostra e o feixe de electrões irradiado geram contaminação da amostra. Os hidrocarbonetos são geralmente ligados de forma não covalente à superfície do espécime durante o manuseamento, ...

... transversais como a fresagem plana para preparar amostras, dependendo do objetivo. O controlo da temperatura de arrefecimento, a unidade de suporte de proteção do ar e várias opções permitem a preparação ...

... O mais avançado sistema de feixe de iões largos para produzir amostras de secção transversal ou de fresagem plana de excecional qualidade para microscopia eletrónica. O ArBlade 5000 está equipado com ...

... fácil de utilizar para a preparação de amostras pré-analíticas, garantindo os melhores dados possíveis das suas amostras TEM. As superfícies das amostras estão inevitavelmente ...