容量試験機 Quasar200

パフォーマンス安全電気安全

製品
ITEM 776-030-00 — 電力特性試験器

概要
SiC や GaN といったワイドバンドギャップ（WBG）パワーデバイスは、より高い電力、より高速なスイッチング、および JESD 24-9、JESD 24-10、AQG-324 などの厳しい規格に対応するため、専用の測定手法を必要とします。Quasar200 と Pulsar600 は、Si、GaN、SiC デバイスの DC/AC 特性評価向けに構成されたプラットフォームです。Quasar200 は Si、GaN、および低電力の SiC 向け、Pulsar600 は超高電流用途（SiC、インバータ、自動車用途）向けに設計されています。

主な利点

• ターンキーソリューション — 多様なパッケージやベアダイに対応する低インダクタンス試験ソケットを含む、DC/AC 測定の完全な機能。
• 測定の一貫性 — 高い絶対精度とシステム間の再現性により、信頼できる再現性のあるデータを提供。
• 運用上の安全性 — 高電圧・高電流試験に対応した密閉試験環境、ハードウェアインターロック、および故障時の保護を行う SocketSafe™ 技術。

製品説明
モジュラー設計のハードウェアと直感的なソフトウェアにより、セットアップ、試験実行、レポート作成を効率化します。システムは Linux コントローラを含み、UKAS トレーサブルな校正オプションを備え、トレーサビリティおよび監査ログが求められる研究・開発・試作ラボに適します。

精度
高帯域幅の計測器と精密なタイミング制御がナノ秒レンジのスイッチング過渡現象を捕捉します。組み込みの自動校正とリアルタイム監視により測定条件を維持し、システム間の一貫性を支援します。

安全性
高電圧／高電流試験用に監視されたインターロックを備えた完全密閉の試験エリアを提供します。SocketSafe™ 技術は DUT が破壊的に故障した場合に迅速にエネルギーを除去し、試験ソケットおよび計測機器を保護します。準拠：CE マーク、SEMI 規格に沿った設計、UKAS 校正参照。

仕様
FEATURES/CONFIGURATIONS | Quasar200 | Pulsar600
AC Source — Voltage | 1,200 V | 1,400 V
AC Source — Current | 1,200 A | 3,000 A
AC Source — Short Circuit Current | 2,000 A | 10,000 A
AC Source — Gate Voltage | -25V to 0V, 0V to 25V | -25V to 0V, 0V to 25V

AC Measure — Voltage Accuracy | 2% of range | 2% of range
AC Measure — Current Accuracy | 1% of range | 1% of range
AC Measure — Voltage Measurement Range | 2,000 V | 2,000 V
AC Measure — Current Measurement Range | 3,000 A included; 1,000 A option | 6,000 A included; 3,000 A and 12,000 A options
AC Measure — Probe Bandwidth | 400 MHz | 120 MHz

Misc. — Gate Resistance | 1 to 255 Ω | 1 to 255 Ω
Misc. — Load Inductor | 100 μH plug-in inductor | 100 μH plug-in inductor
Misc. — DC Link Capacitance | 2–3 mF + 35–40 μF | 2–3 mF + 35–40 μF
Misc. — Parasitic Stray Inductance | <30 nH typical | <30 nH typical

DC Source — Voltage | 3,000 V | 3,000 V
DC Source — Current Drive Range (HV) | 100 nA - 100 mA | 100 nA - 100 mA
DC Source — Current Drive Range (LV) | 100 nA - 1,000 A | 100 nA - 1,000 A
DC Source — Current | 200 A | 600 A
DC Source — Floating Vx range | 25 V, 100 nA – 1 mA | 25 V, 100 nA – 1 mA

DC Measure — Accuracy | 0.10% | 0.10%
DC Measure — Resolution | 16 bit across ±125% of range | 16 bit across ±125% of range
System — Minimum Requirements | Linux controller (included) and ipWORKS v5.51 or later | Linux controller (included) and ipWORKS v5.51 or later
System — Certifications | CE, SEMI S2, S8, ISO 9001 | CE, SEMI S2, S8, ISO 9001

技術的特徴

• 対象デバイス：Si、GaN、SiC、およびベアダイによる WBG 特性評価。
• Quasar200：Si、GaN、低電力 SiC のテストに最適化。
• Pulsar600：超高電流用途（SiC、インバータ、自動車）向け設計。
• 高電圧対応：最大 3,000 V DC、モデルにより AC スイッチング最大 1,400 V。
• 高電流対応：スイッチング／測定レンジは数 kA まで、短絡処理は最大 10,000 A（モデル依存）。
• 低寄生設計：AC テスト経路で <30 nH（典型）。
• プローブ帯域幅：Quasar200 最大 400 MHz、Pulsar600 120 MHz。
• 測定精度：DC 0.10%；AC 電圧 2% のレンジ；AC 電流 1% のレンジ。
• 分解能：±125% 範囲で 16 ビット取得。
• ゲート駆動：ゲート抵抗 1–255 Ω（調整可能）、ゲート電圧範囲 -25V〜0V および 0V〜25V。
• 保護機能：SocketSafe™、密閉試験環境、ハードウェアインターロック。
• 校正と準拠：UKAS トレーサブル校正オプション；CE マークおよび SEMI 準拠設計。
• ソフトウェア：Linux コントローラ標準搭載；ipWORKS v5.51 以降が必要。