概要SPCM-AQ4Cは、400–1060 nm帯域で単一光子を検出可能な4チャネルの光子計数モジュールです。各チャネルは独立して動作し、検出した光子に対応するTTLパルスを出力します。
主な特徴と機能説明本モジュールは、直径180 μmの円形有効面を持つSLiKシリコンAPDを4基搭載し、650 nm付近でのピーク検出効率は>60%です。各APDは熱電冷却および温度制御され、周囲温度変化下でも安定した性能を維持します。高速フロントエンド電子回路により、全チャネルでの短時間バースト時ピークカウントレートは>4M counts/s、連続カウントレートは1.5M counts/sを実現し、パルス間のデッドタイムは50 nsです。出力はカードエッジ/コネクタで取得可能なTTLパルス(50 Ω負荷時4.5 V高、幅25 ns)です。各検出器にFC光コネクタが実装・整列されています。モジュールはAPD用電子回路を内蔵した自己完結型で、RoHS準拠です。
用途- 可視~近赤外(400–1060 nm)の単一光子検出
- コンパクトな一体型パッケージでの多チャネル光子計数(4独立チャネル)
- 温度安定化されたAPDと高いピークカウント性能が必要な計測
仕様 / 技術仕様- 波長範囲:400 nm~1060 nm
- 検出器タイプ:シリコンAvalanche Photodiode(SLiK)
- 有効面:直径180 μm(円形)
- 650 nmでのピーク検出効率:60%(典型値)
- アフターパルス確率:0.5%
- ゲート入力:対応
- 出力:TTLパルス(50 Ω負荷時4.5 V高、幅25 ns)
- ピークカウントレート:短時間バーストで>4M counts/s(全4チャネル)
- 連続カウントレート:1.5M counts/s
- パルス間デッドタイム:50 ns
- 電源要件:+2 V、+5 V、+30 V
- 各検出器にFC光コネクタを実装・整列
- 一つのパッケージに4チャネル統合
- APD電子回路を内蔵した自己完結型モジュール
- 全入出力信号をカードコネクタで使用可能
- 各フォトダイオードに対する熱電冷却および温度制御
- RoHS準拠