製品説明太陽光(PV)モジュールの潜在誘起劣化(PID)およびバイパスダイオード熱試験用システムです。本システムは強い電界と高温多湿環境を模擬し、モジュールのコネクタおよびフレームに対して制御された正負の高電圧を印加し、温湿度チャンバーと連携して温度・湿度の複合ストレス試験を行います。結晶シリコンPVモジュールのラボ試験および生産ラインでの品質評価に適しています。
試験規格- IEC61215-2: 2021 MQT 21 Potential Induced Degradation Test
- IEC 62804-1-1:2020 Photovoltaic (PV) modules - Test methods for the detection of potential-induced degradation Part 1-1 Crystalline silicon – Delamination
- IEC 63209:2019 Extended-stress testing of photovoltaic modules
製品仕様型番:8086-HD
直流調整電源:監視・制御可能な独立12チャネル、各チャネルは電圧極性を個別に制御可能
電圧範囲:-2000V〜2000V
電圧分解能:1V
電圧安定度:連続出力(1000V、1500V、2000V)において500時間で変動 ≤2%
接続方法:モジュールフレーム接地、コネクタ短絡後に高電圧端子へ接続。負電圧試験と正電圧回復は極性切替のみで接続変更不要
電圧精度:±3%(参照 CNAS-CL01-A021:2018)
電圧許容差:0.5%(参照 IEC 62804-1-1:2020)
電流測定範囲:0〜1 mA、分解能:0.01 μA(IEC 62804-1-1:2020に準拠)
取得間隔:≤5分(ソフトウェアで調整可能)
安全保護:過電流警報、過電圧警報、過温度警報;環境試験室との通信インターフェースあり
電源:単相、220V、50Hz
製品の利点- 品質保証:専門サプライヤーとの連携と製造工程における管理
- コスト効率:市場に合わせた価格設定で総所有コストを最適化
- QCチーム:製造中および出荷前のAQL基準に基づく検査
- 試験室向け設計:プロフェッショナルな筐体と試験ベンチやラックへの組み込みに対応
技術仕様- 型番:8086-HD
- チャネル:独立12チャネルの直流調整電源
- 電圧範囲:-2000V〜2000V
- 電圧分解能:1V
- 電圧安定度:連続出力(1000/1500/2000V)で500時間以内の変動 ≤2%
- 電圧精度:±3%(CNAS-CL01-A021:2018)
- 電圧許容差:0.5%(IEC 62804-1-1:2020)
- 電流測定範囲:0〜1 mA;分解能 0.01 μA
- 取得間隔:≤5分(ソフトで調整可)
- 保護機能:過電流、過電圧、過温度の警報;環境試験室との通信インターフェース
- 電源:単相、220V、50Hz