走査型電子顕微鏡 JSM-IT810
検査用ショットキー電界放出EBSD

走査型電子顕微鏡 - JSM-IT810 - Jeol - 検査用 / ショットキー電界放出 / EBSD
走査型電子顕微鏡 - JSM-IT810 - Jeol - 検査用 / ショットキー電界放出 / EBSD
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特徴

タイプ
走査型電子
応用
検査用
電子源
ショットキー電界放出
検出器の特徴
EBSD
その他の特徴
自動, 観測用, リアルタイム, 調整用, 地形測量用

詳細

JSM-IT810は、次世代型電子光学制御システム"Neo Engine"と、ZeromagやEDSインテグレーションなどの高い操作性を実現する"SEM Center"を搭載しています。さらに自動観察・分析機能"Neo Action"や自動校正機能は効率性や生産性の向上だけでなく、労働力不足の解消に貢献します。 対物レンズの違いにより、汎用FE-SEMであるハイブリッドレンズ〈HL〉、より高分解能観察や分析を可能にするスーパーハイブリッドレンズ〈SHL〉、対物レンズの下部に強い磁場レンズを形成するセミインレンズ〈SIL〉をラインナップしており、お客様の様々なニーズに応じた装置を提供します。 直感的な操作で、誰でも簡単にSEM観察やEDS分析を自動化することができます。 試料: コンドライト Julesberg (L3.6) に含まれるコンドリュール 入射電圧: 5 kV 観察モード: STD 検出器: BED SEM自動調整パッケージ 専用の試料を用いて倍率調整・軸調整・EDSエネルギーキャリブレーションを行う機能です。 定期的なチェックを行い装置を常に良好な状態にすることができます。 5分割の半導体検出器素子により、信号選別ができます。4方向から取得した二次元像を用いると三次元像を再構築することができます。あらたに搭載したLive-3D機能により、Live像で凹凸を確認しながら測定することができます。SEMによる観察とEDSによる元素分析の壁を感じさせない次世代の操作性を実現。 点、エリア、MAP、線など様々な分析方法を観察画面上に直接予約でき、すぐに分析を開始できます。

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*価格には税、配送費、関税また設置・作動のオプションに関する全ての追加費用は含まれておりません。表示価格は、国、原材料のレート、為替相場により変動することがあります。